[发明专利]LED显示屏的整屏校正方法、校正系统及存储介质在审
申请号: | 201810014828.0 | 申请日: | 2018-01-08 |
公开(公告)号: | CN108320696A | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 谢明璞;严振航;孙兴红;李选中;吴振志;吴涵渠 | 申请(专利权)人: | 深圳市奥拓电子股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 整屏 校正 空间均匀性 存储介质 校正系数 校正系统 边界像素 实时校正 数据分析 图像确定 像素点阵 校正图像 预设算法 手机 相机 图像 | ||
本发明涉及一种LED显示屏的整屏校正方法、校正系统及存储介质。所述方法包括以下步骤:获取LED显示屏的整屏图像;根据获取的整屏图像确定LED模组的边界像素点,并获取边界像素点的空间均匀性参数;由LED模组间的像素点阵空间均匀性参数根据预设算法得到校正系数;将所述校正系数用于LED显示屏进行整屏校正。上述LED显示屏的整屏校正方法、校正系统及存储介质,基于空间均匀性计算校正系数,使用普通相机或手机即可进行校正,降低了校正成本,且大大减少了数据分析量,可以进行实时校正,而无需显示特定的校正图像。
技术领域
本发明涉及显示屏校正领域,特别是涉及一种LED显示屏的整屏校正方法、校正系统及存储介质。
背景技术
通常,大面积的LED显示屏由若干个小的LED模组拼接形成,单个LED模组在出厂时会进行出厂校正,但是,拼接后形成的整屏,由于拼接误差会造成整屏的亮度不均匀,因此,需要在拼接完成后,对整屏进行二次校正。
现有的校正方法,通常是使用专业相机对LED屏体上所有LED像素灯进行亮度及色域分析,得出所有点的校正系数,再将此校正系数应用到屏体上。然而,专业相交较为昂贵,使用不方便,从而使得校正成本较高。
发明内容
基于此,有必要针对LED显示屏的二次校正的校正成本高的问题,提供一种LED显示屏的整屏校正方法、校正系统及存储介质。
本发明第一方面提供一种LED显示屏的整屏校正方法,所述方法包括以下步骤:
获取LED显示屏的整屏图像;
根据获取的整屏图像确定LED模组的边界像素点,并获取边界像素点的空间均匀性参数;
由LED模组间的像素点阵空间均匀性参数根据预设算法得到校正系数;
将所述校正系数用于LED显示屏进行整屏校正。
在其中一个实施例中,所述获取边界像素点的空间均匀性参数包括:
获取边界像素点的位置信息;
根据像素点的位置信息确定与所述边界像素点相邻的四个校正像素点的位置;
基于图像分析计算边界像素点与四个校正像素点之间的距离D1、D2、D3和D4;
其中,四个所述校正像素点构成的四边形的其中一条对角线平行于LED模组的边缘线。
在其中一个实施例中,所述由LED模组间的像素点阵空间均匀性参数根据预设算法得到校正系数包括:
获取边界像素点所在LED模组的模组内像素间距D;
根据模组内像素间距D及边界像素点与四个校正像素点之间的距离D1、D2、D3和D4计算得到校正系数。
在其中一个实施例中,所述获取边界像素点所在LED模组的模组内像素间距D包括:
基于图像分析计算边界像素点所在LED模组的模组内像素间距D;或
读取预设的模组内像素间距D。
在其中一个实施例中,所述边界像素点与四个校正像素点之间的距离D1、D2、D3和D4直接由图像分析得到;或
所述边界像素点与四个校正像素点之间的距离D1、D2、D3和D4由对图像分析得到的边界像素点与四个校正像素点之间的距离值校正后得到。
在其中一个实施例中,所述对图像分析得到的边界像素点与四个校正像素点之间的距离值的校正具体包括:根据对图像分析得到的边界像素点与四个校正像素点之间的距离值的相近度进行校正。
在其中一个实施例中,所述预设算法为:校正系数=(D1+D2)*(D3+D4)/(4*D*D)。
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