[发明专利]研磨液和研磨方法有效
申请号: | 201780093690.1 | 申请日: | 2017-08-09 |
公开(公告)号: | CN110997856B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 大塚祐哉;岩野友洋 | 申请(专利权)人: | 昭和电工材料株式会社 |
主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14;B24B37/00;H01L21/3105;H01L21/321 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 研磨 方法 | ||
1.一种研磨液,其含有:
磨粒、
分子量为210以上的膦酸化合物、
选自氨基酸和氨基酸衍生物中的至少一种氨基酸成分;
所述磨粒的硅烷醇基密度在6.5个/nm2以下,
所述磨粒的缔合度在1.5~3.0,
所述磨粒包含二氧化硅,
以研磨液的总质量为基准计,所述磨粒的含量为0.10质量%~5.0质量%,所述膦酸化合物的含量为0.005质量%~1.0质量%,所述氨基酸成分的含量为0.005质量%~1.0质量%。
2.根据权利要求1所述的研磨液,其中,所述磨粒包含胶态二氧化硅。
3.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的硅烷醇基密度在2.0个/nm2以下。
4.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的硅烷醇基密度在1.0个/nm2以上。
5.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的缔合度在2.0以上。
6.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的平均一次粒径为40nm以下。
7.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的平均一次粒径为15nm以上。
8.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的平均二次粒径为80nm以下。
9.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的平均二次粒径为30nm以上。
10.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的ζ电位为正。
11.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述磨粒的ζ电位为+16mV以下。
12.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,以研磨液的总质量为基准计,所述磨粒的含量为0.50质量%以上。
13.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,以研磨液的总质量为基准计,所述磨粒的含量为3.0质量%以下。
14.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物的分子量为280以上。
15.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物的分子量为350以下。
16.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物中的膦酸基的数目为3以上。
17.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物中的膦酸基的数目为6以下。
18.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物中的膦酸基的数目为4以下。
19.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物包括包含氮原子的化合物。
20.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物包括叔胺化合物。
21.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物具有羧基。
22.根据权利要求1或2所述的研磨液,其中,所述膦酸化合物中的羧基的数目为3以上。
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