[发明专利]静电电容检测装置以及输入装置有效
申请号: | 201780079128.3 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN110088637B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 筱井洁;藤由达巳;寒川井伸一 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯阿尔派株式会社 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G06F3/041;G06F3/044;H03K17/955 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 赵琳琳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 电容 检测 装置 以及 输入 | ||
1.一种静电电容检测装置,检测接近检测电极的对象物与所述检测电极之间的静电电容,其中,
所述静电电容检测装置具有:
第1电压输出电路,输出供给到与所述检测电极接近配置的屏蔽电极的第1交流电压;
第2电压输出电路,输出频率和相位与所述第1交流电压相等、且振幅比所述第1交流电压小的第2交流电压;以及
电流输出电路,向所述检测电极输出驱动电流使得所述检测电极的电压与所述第2交流电压的电压差变小,并且输出与该驱动电流相应的检测信号,
所述第2电压输出电路输出振幅被调整为不存在接近所述检测电极的所述对象物的状态下的所述驱动电流成为零的所述第2交流电压,
所述第2电压输出电路输出使所述第1交流电压衰减后的电压作为所述第2交流电压,
所述第2电压输出电路包含第1电容器与第2电容器的串联电路,
所述第1电压输出电路在所述串联电路的两端施加所述第1交流电压,
在所述第2电容器中产生与所述第1交流电压相应的所述第2交流电压。
2.根据权利要求1所述的静电电容检测装置,其中,
所述第1电容器与所述第2电容器的静电电容比具有被调整为不存在接近所述检测电极的所述对象物的状态下的所述驱动电流成为零的值。
3.根据权利要求2所述的静电电容检测装置,其中,
所述第2电容器的静电电容值能够调整,所述第2电容器具有被调整为不存在接近所述检测电极的所述对象物的状态下的所述驱动电流成为零的静电电容值。
4.一种静电电容检测装置,检测接近检测电极的对象物与所述检测电极之间的静电电容,其中,
所述静电电容检测装置具有:
第1电压输出电路,输出供给到与所述检测电极接近配置的屏蔽电极的第1交流电压;
第2电压输出电路,输出频率和相位与所述第1交流电压相等、且振幅比所述第1交流电压小的第2交流电压;以及
电流输出电路,向所述检测电极输出驱动电流使得所述检测电极的电压与所述第2交流电压的电压差变小,并且输出与该驱动电流相应的检测信号,
所述第2电压输出电路输出振幅被调整为不存在接近所述检测电极的所述对象物的状态下的所述驱动电流成为零的所述第2交流电压,
所述第2电压输出电路输出使所述第1交流电压衰减后的电压作为所述第2交流电压,
所述电流输出电路包含:
运算放大器,将与所述检测电极连接的反相输入端子和被施加所述第2交流电压的同相输入端子的电压差进行放大,并将该放大结果作为所述检测信号输出;
反馈电容器,设置于所述运算放大器的所述检测信号的输出端子与所述反相输入端子之间的路径;
反馈电阻,与所述反馈电容器并联连接;以及
第1电阻,设置于所述运算放大器的所述反相输入端子与所述检测电极之间的路径。
5.根据权利要求4所述的静电电容检测装置,其中,
所述第1电压输出电路以及所述第2电压输出电路分别能够变更所输出的交流电压的频率,
所述第1电阻是电阻值根据所述第1交流电压以及所述第2交流电压的频率而变更的可变电阻。
6.根据权利要求4所述的静电电容检测装置,其中,
所述反馈电容器的静电电容值以及所述反馈电阻的电阻值分别能够调整。
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