[发明专利]采用多模式扫描的电容性感测有效
申请号: | 201780074865.4 | 申请日: | 2017-08-28 |
公开(公告)号: | CN110036302B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 欧勒山德·卡尔宾;米哈伊洛·克列霍夫特斯卡;鲁斯兰·奥梅利丘克;罗曼·欧吉扣;维克特·奎曼 | 申请(专利权)人: | 赛普拉斯半导体公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G06F3/044;G06F3/045;G06K9/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张瑞;杨明钊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 模式 扫描 电容 性感 | ||
1.一种感测电路,包括:
第一输入端,所述第一输入端可操作地耦合到第一组的两个或更多个驱动(TX)电极;
第一组的两个或更多个输入端,所述第一组的两个或更多个输入端分别可操作地耦合到第一组的两个或更多个感测(RX)电极,与所述第一组的两个或更多个驱动电极形成至少四个交叉点,所述至少四个交叉点包括第一交叉点和第二交叉点,其中,在所述第一组的两个或更多个驱动电极中的驱动电极的第一数量不同于在所述第一组的两个或更多个感测电极中的感测电极的第二数量;
第二组的两个或更多个输入端,所述第二组的两个或更多个输入端分别可操作地耦合到第二组的两个或更多个感测电极,与所述第一组的两个或更多个驱动电极形成所述第二交叉点和第三交叉点;
扫描控制电路,所述扫描控制电路可操作地耦合到所述第一输入端、所述第一组的两个或更多个输入端以及所述第二组的两个或更多个输入端,以经由多路复用器并发地选择所述第一组的两个或更多个感测电极,并且并发地选择所述第二组的两个或更多个感测电极,使所述多路复用器电耦合所述第一组的两个或更多个驱动电极,以并发地驱动在所述两个或更多个驱动电极上的第一信号,并且使所述多路复用器电耦合所述第一组的两个或更多个感测电极,以响应于所述第一信号而并发地接收由在所述第一组的两个或更多个感测电极上感应出的电流产生的第二信号;
模拟前端AFE,所述AFE被配置成:
产生表示第一单位单元的第一互电容的第一数字值,其中,所述第一单位单元包括所述第一交叉点和所述第二交叉点;以及
产生表示第二单位单元的第二互电容的第二数字值,其中,所述第二单位单元包括所述第二交叉点和所述第三交叉点;
信道引擎,所述信道引擎可操作地耦合到所述AFE,所述信道引擎被配置成产生分别对应于所述第一单位单元和所述第二单位单元的第一电容值和第二电容值;
指纹控制器,所述指纹控制器基于组合图像确定指纹的脊线或谷线的存在,
其中,基于第一图像和第二图像产生所述组合图像,所述第一图像是基于所述第一电容值产生的,所述第二图像是基于所述第二电容值产生的,并且
其中,所述组合图像包括:
包括所述第一电容值的奇数像素列;以及
包括所述第二电容值的偶数像素列。
2.一种用于多模式扫描的方法,所述方法包括:
由处理设备并发地驱动电极的触摸面板的第一组的两个或更多个驱动(TX)电极;
并发地驱动所述电极的触摸面板的第二组的两个或更多个驱动电极;
响应于并发地驱动所述第一组的两个或更多个驱动电极,从所述电极的触摸面板的第一组的两个或更多个感测(RX)电极并发地接收两个或更多个第一信号;
响应于并发地驱动所述第二组的两个或更多个驱动电极,从所述电极的触摸面板的第二组的两个或更多个感测电极并发地接收两个或更多个第二信号;
由所述处理设备确定第一单位单元的第一电容,所述第一单位单元包括所述第一组的两个或更多个驱动电极和所述第一组的两个或更多个感测电极的至少四个交叉点,根据表示所述第一单位单元的第一电容的生成的第一数字值来确定所述第一电容;
确定第二单位单元的第二电容,所述第二单位单元包括所述第二组的两个或更多个驱动电极和所述第二组的两个或更多个感测电极的至少四个交叉点,根据表示所述第二单位单元的第二电容的生成的第二数字值来确定所述第二电容;
基于所述第一电容,产生第一图像;
基于所述第二电容,产生第二图像;以及
基于所述第一图像和所述第二图像,产生组合图像,以及
基于所述第一电容和所述第二电容,确定在所述电极的触摸面板上指纹的脊线或谷线的存在,
其中,所述第二单位单元的所述至少四个交叉点包括所述第一单位单元的至少两个交叉点,
其中,所述第一组的两个或更多个驱动电极和所述第二组的两个或更多个驱动电极的驱动电极的第一数量不同于所述第一组的两个或更多个感测电极和所述第二组的两个或更多个感测电极的感测电极的第二数量,并且
其中,所述组合图像包括:
包括所述第一电容的奇数像素列,以及
包括所述第二电容的偶数像素列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛普拉斯半导体公司,未经赛普拉斯半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780074865.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。