[发明专利]用于光谱分析和增益调整的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201780073096.6 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN110012673B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 弗洛里贝特斯·PM·休肯斯费尔特詹森;马克·大卫·弗里斯;曹拓宇 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G01T1/17;G01T1/40;G06F18/15;G06F18/30
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;钱慰民
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光谱分析 增益 调整 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种辐射检测系统,包括:

检测器单元,所述检测器单元被配置为响应于辐射而生成信号;和

至少一个处理器,所述至少一个处理器可操作地耦接到所述检测器单元并且被配置为从所述检测器单元接收所述信号,所述至少一个处理器被配置为:

在成像过程期间,获取对应于第一能量窗口的至少一个所述信号的至少第一计数,所述第一能量窗口对应于比固有峰值高的值;

在所述成像过程期间,获取对应于第二能量窗口的至少一个所述信号的至少第二计数,所述第二能量窗口对应于比所述固有峰值低的值;

获取对应于辅助能量窗口的至少一个所述信号的辅助计数,所述辅助能量窗口对应于与散射相关联的能量值;以及

基于至少所述第一计数、所述第二计数和所述辅助计数来调整应用于所述信号的增益。

2.根据权利要求1所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被进一步配置为:

获取对应于窗口的至少一个所述信号的接收辐射计数,所述窗口与至少一个所述信号的接收能量部分相关联;以及

基于所述第一计数、所述第二计数、所述辅助计数和与所述接收能量部分相关联的所述窗口的接收辐射计数来调整所述增益。

3.根据权利要求1所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被进一步配置为:

获取对应于第三固有能量窗口的至少一个所述信号的第三计数;

获取对应于第四固有能量窗口的至少一个所述信号的第四计数;

获取对应于第一接收能量窗口的至少一个所述信号的第五计数;

获取对应于第二接收能量窗口的至少一个所述信号的第六计数;

获取对应于第三接收能量窗口的至少一个所述信号的第七计数;

获取对应于第四接收能量窗口的至少一个所述信号的第八计数;以及

基于所述第一计数、所述第二计数、所述第三计数、所述第四计数、所述第五计数、所述第六计数、所述第七计数、所述第八计数和所述辅助计数的加权和来调整应用于所述信号的所述增益。

4.根据权利要求2所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被进一步配置为:

在初始启动时段期间使用所述第一计数和所述第二计数来调整所述增益;以及

在成像时段期间使用所述第一计数、所述第二计数和与所述接收能量峰值相关联的所述窗口的计数来调整所述增益。

5.根据权利要求2所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被配置为基于峰值分析度量来选择调整技术,其中所述峰值分析度量是基于给定峰值周围的窗口的加权和的。

6.根据权利要求5所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被配置为在粗略调整技术与精细调整技术之间进行选择。

7.根据权利要求1所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被配置为通过调整从所述检测器单元接收的测量值来虚拟地调整所述增益。

8.根据权利要求1所述的辐射检测系统,其中所述至少一个处理器被配置为确定稳定性度量,并且基于所述稳定性度量来确定是否调整所述增益。

9.一种用于成像的方法,包括:

响应于辐射,利用检测器单元来生成信号;

在成像过程期间,利用至少一个处理器来获取对应于第一能量窗口的至少一个所述信号的第一计数,所述第一能量窗口对应于比固有峰值高的值;

在成像过程期间,利用所述至少一个处理器来获取对应于第二能量窗口的至少一个所述信号的第二计数,所述第二能量窗口对应于比所述固有峰值低的值;

利用所述至少一个处理器来获取对应于辅助能量窗口的至少一个所述信号的辅助计数,所述辅助能量窗口对应于与散射相关联的能量值;以及

基于至少所述第一计数、所述第二计数和所述辅助计数来调整应用于所述信号的增益。

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