[发明专利]用于检测偏转的方法、扫描设备以及阻挡装置用于检测偏转的用途有效
申请号: | 201780063322.2 | 申请日: | 2017-09-27 |
公开(公告)号: | CN109844525B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 陈世钦;刘长远;A·A·赫尔斯特罗姆 | 申请(专利权)人: | ABB瑞士股份有限公司 |
主分类号: | G01N33/34 | 分类号: | G01N33/34 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 偏转 方法 扫描 设备 以及 阻挡 装置 用途 | ||
1.一种用于检测扫描设备(100)中的源模块(130)与检测模块(140)之间的偏转(D)的方法,所述源模块和所述检测模块被配置为传感器对,所述传感器对用于扫描片材(80)的传输测量,所述片材(80)在机器方向(MD)上被输送通过所述源模块(130)与所述检测模块(140)之间形成的感测间隔(150),
所述源模块(130)被布置在所述感测间隔(150)的第一侧上、以及朝向所述感测间隔(150)发射感测辐射(R),并且所述检测模块(140)被布置在所述感测间隔(150)的与所述第一侧相对的第二侧上、以及检测来自所述源模块(130)并且通过所述感测间隔(150)传输的所述辐射(R),
所述方法包括:
-将可去除的阻挡装置(200)附接到所述检测模块(140),使得所述阻挡装置(200)的辐射阻挡区域(206)以不对称的方式部分地阻挡照射到所述检测模块(140)的检测模块孔(142)上的所述辐射(R)的横截面区域的子区域;以及
-执行部分阻挡扫描过程,在所述部分阻挡扫描过程期间,所述源模块(130)和所述检测模块(140)在所述扫描设备(100)的横向方向(CD)上共同移动,所述源模块(130)发射所述辐射(R),并且所述检测模块(140)检测已经通过所述感测间隔(150)传输的来自所述源模块(130)的所述辐射(R),由此与由所述辐射阻挡区域(206)覆盖的所述子区域相对应的所述辐射(R)的选择部分被阻挡以免由所述检测模块孔(142)检测到,从而从由所述检测模块(140)检测到的所述辐射(R)获得部分阻挡传感器信号(141)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述偏转(D)被用作所述扫描设备(100)的机械部件或操作的状况的诊断、或者用于所述扫描设备的机械状况、诊断或维护的量化。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述扫描设备的机械部件或操作的所述状况包括但不限于扫描设备机构(300)的以下属性中的任何属性或全部属性:
a)下传动带(371)与上传动带(372)之间的张力差;
b)下传动滑轮(375)对上传动滑轮(376)的相位调整;
c)下传动滑轮(375)或上传动滑轮(376)的偏心;
d)下惰轮(385)或上惰轮(386)的偏心;
e)下传动滑轮(375)与上传动滑轮(376)之间的侧隙;
f)下托架(330)和/或上托架(340)上的轮(350)的圆度;
g)导轨(360)上的轮(350)的接触均匀性;
h)导轨(360)上的直度、缺陷和碎片;
i)源模块(130)和检测模块(140)到其对应的下托架(330)和上托架(340)上的紧固和对准;
j)由所述扫描设备(100)附近的其它处理机器的外部激励引起的所述扫描设备机构(300)中的振动;以及
k)由所述扫描设备机构(300)的子系统中的任何子系统的内部激励引起的所述扫描设备机构(300)中的振动。
4.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括:
根据从所述检测模块(140)获得的所述传感器信号(141)来计算所述源模块(130)与所述检测模块(140)之间的所述偏转(D)由系统(400)处理,所述系统(400)用于根据横向方向(CD)位置来提供部分阻挡扫描测量(401)。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述计算步骤提供从部分阻挡扫描测量(401)到以长度为单位的偏转轮廓(728)的转换。
6.根据权利要求5所述的方法,其中使用所述偏转(D)作为所述扫描设备的机械部件或操作的状况的诊断、或者用于扫描设备的机械状况、诊断或维护的量化包括:从所述偏转轮廓(728)提取偏转特性,以及将提取的所述偏转特性与所述扫描设备的机械部件或操作的所述状况相关联,以用于扫描设备的机械状况、诊断或维护的量化。
7.根据权利要求6所述的方法,其中在所述提取和关联步骤中,针对正向扫描方向和反向扫描方向从所述偏转轮廓(728)获得功率谱。
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