[发明专利]用于改进的深度感测的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201780055216.X 申请日: 2017-07-25
公开(公告)号: CN109691092B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: S·坎贝尔;S·M·维罗尔;K·M·阿塔纳索夫 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H04N13/254 分类号: H04N13/254;H04N13/271;H04N5/235;H04N5/238;G06T7/521
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 改进 深度 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于深度感测的方法,其包括:

照明场景,所述照明包含结构光图案分量和零阶分量;

捕获经照明的场景的图像;

基于所述图像中的所述结构光图案来产生所述场景的深度图;

确定所述深度图的质量水平;

响应于所述深度图的所述质量水平满足第一准则:

基于所述零阶分量在所述图像中的位置,确定深度信息,以及

基于所述深度信息产生第二图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:响应于所述深度图的所述质量水平满足第二准则,基于所述深度图产生第二图像。

3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括将所述第二图像写入到输出装置。

4.根据权利要求1所述的方法,其中基于所述零阶分量的位置确定深度信息包括:

将所述零阶分量的位置与对应于预定深度的预定位置进行比较;以及

基于所述比较来确定所述深度信息。

5.根据权利要求4所述的方法,其进一步包括:

基于所述零阶分量在所述图像中的位置,在两个预定位置之间进行内插;以及

基于所述内插来确定所述深度信息。

6.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述深度图的所述质量包括确定所述深度图中的无效深度值的百分比,其中所述深度图的所述质量至少部分地基于无效深度值的所述百分比。

7.根据权利要求6所述的方法,其中确定所述深度图的所述质量包括确定所述深度图中的无效深度值的区的大小,其中所述深度图的所述质量至少部分地基于所述大小。

8.一种用于深度感测的设备,其包括:

图像传感器;

光发射器;以及

电子硬件处理器,其经配置以:

使用所述光发射器来照明场景,所述照明包含结构光图案分量和零阶分量,

用所述图像传感器来捕获经照明的场景的图像,

基于所述图像中的所述结构光图案来产生所述场景的深度图,

确定所述深度图的质量水平,以及

响应于所述深度图的所述质量水平满足第一准则

基于所述零阶分量在所述图像中的位置,确定深度信息,以及

基于所述深度信息产生第二图像。

9.根据权利要求8所述的设备,其中所述电子硬件处理器进一步经配置以响应于所述深度图的所述质量水平满足第二准则,基于所述深度图产生第二图像。

10.根据权利要求8所述的设备,其中所述电子硬件处理器进一步经配置以将所述第二图像写入到输出装置。

11.根据权利要求8所述的设备,其中基于所述零阶分量的位置确定深度信息包括:

将所述零阶分量的位置与对应于预定深度的预定位置进行比较;以及

基于所述比较来确定所述深度信息。

12.根据权利要求11所述的设备,其中所述电子硬件处理器进一步经配置以:

基于所述零阶分量在所述图像中的位置,在两个预定位置之间进行内插;以及

基于所述内插来确定所述深度信息。

13.根据权利要求8所述的设备,其中所述电子硬件处理器进一步经配置以通过确定所述深度图中的无效深度值的百分比来确定所述深度图的所述质量,其中所述深度图的所述质量至少部分地基于无效深度值的所述百分比。

14.根据权利要求13所述的设备,其中所述电子硬件处理器进一步经配置以通过确定所述深度图中的无效深度值的区的大小来确定所述深度图的所述质量,其中所述深度图的所述质量至少部分地基于所述大小。

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