[发明专利]经分层Z剔除(HiZ)优化的阴影映射在审
申请号: | 201780050368.0 | 申请日: | 2017-08-15 |
公开(公告)号: | CN109564697A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | T·G·阿凯奈-莫勒;M·安德森;J·N·哈塞尔格林;C·J·穆克伯格;J·K·尼尔森 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06T15/04 | 分类号: | G06T15/04;G06T7/50;G06T1/20;G06T1/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 何焜;黄嵩泉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像图 深度数据 映射 分层 剔除 方法和设备 阴影 多项操作 处理器 优化 响应 | ||
1.一种设备,包括:
存储器,用于存储与图像图块相对应的深度数据;以及
处理器,耦合至所述存储器,用于响应于确定所述深度数据包括在所述图像图块内部的最小深度值以及在所述图像图块内部的最大深度值而对所述深度数据执行一项或多项操作。
2.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于响应于确定从视点到所述图像图块的像素的距离大于所述最大深度值而确定所述像素位于阴影中。
3.如权利要求2所述的设备,其特征在于,所述处理器用于在不执行从阴影图中读取每像素深度值的情况下确定所述像素位于所述阴影中。
4.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于判定样本是否明确位于所述图像图块中的几何图形前面以指示所述样本被照亮。
5.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于响应于从阴影图中读取每像素深度值而确定所述图像图块的像素被照亮。
6.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述一项或多项操作用于包括:检查与所述图像图块相对应的控制表面,以确定所述图像图块的模式。
7.如权利要求1所述的设备,其特征在于,最小-最大模式用于利用每个所述图像图块一个或多个最大深度掩码值。
8.如权利要求7所述的设备,其特征在于,所述图像图块的每个像素用于与用于指示像素是与第一最大深度掩码值还是第二最大深度掩码值相关联的至少一个位相对应。
9.如权利要求8所述的设备,其特征在于,所述处理器用于基于所述至少一个位的值来判定是否使用粗糙阴影测试。
10.如权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括:一个或多个计数器,用于跟踪所述一项或多项操作的成功状况和失败状况。
11.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述深度数据包括针对每个八乘八像素图块在所述图像图块内部的所述最小深度值以及在所述图像图块内部的所述最大深度值。
12.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述存储器用于包括高速缓存,其中,所述高速缓存用于存储所述深度数据以允许针对多项操作进行更快的读取访问。
13.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述存储器用于包括深度缓冲器。
14.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述图像图块用于包括一个或多个像素。
15.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于包括图形处理单元(GPU),所述图形处理单元具有一个或多个图形处理核。
16.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于包括一个或多个处理器核。
17.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器用于包括所述存储器的至少一部分。
18.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述处理器和所述存储器位于单个集成电路管芯上。
19.一种方法,包括:
将与图像图块相对应的深度数据存储在存储器中;以及
响应于确定所述深度数据包括在所述图像图块内部的最小深度值以及在所述图像图块内部的最大深度值而对所述深度数据执行一项或多项操作。
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