[发明专利]驻波检测方法、驻波检测装置和电子枪

说明书

本发明公开了一种驻波检测方法。驻波检测方法用于检测天线组件(10)的天线(12)的驻波比，驻波检测方法包括：(S1)获取天线(12)的测量反射系数；(S2)获取校准参数；(S3)依据测量反射系数和校准参数计算天线(12)的实际反射系数；和(S4)依据实际反射系数计算天线(12)的驻波比。本发明还公开了一种驻波检测装置(20)和电子枪(100)。上述的驻波检测方法、驻波检测装置(20)和电子枪(100)在获取天线(12)的测量反射系数后，还针对测量反射系数通过校准参数计算实际反射系数，并进一步通过实际反射系数计算天线(12)的驻波比，由此得到的天线(12)驻波比的准确度较高。

技术领域

本发明涉及电子器件技术领域，特别涉及一种驻波检测方法、驻波检测装置和电子枪。

背景技术

天线等无线通信产品需要进行驻波检测，以得到驻波比并通过驻波比的大小评估产品的质量是否符合需求，通常使用耦合器、检波器等元器件间接测量产品的驻波比，然而，由于耦合器等元器件本身的精确度难以保证，使得驻波比的测量结果不够准确。

发明内容

本发明的实施方式提供了一种驻波检测方法、驻波检测装置和电子枪。

本发明实施方式的驻波检测方法用于检测天线组件的天线的驻波比，所述方法包括：

获取所述天线的测量反射系数；

获取校准参数；

依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数；和

依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比。

本发明实施方式的驻波检测装置用于检测天线组件的天线的驻波比，所述驻波检测装置包括处理器，所述处理器用于：

获取所述天线的测量反射系数；

获取校准参数；

依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数；和

依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比。

本发明实施方式的电子枪包括天线组件、和与天线组件连接的驻波检测装置，所述天线组件包括天线，所述驻波检测装置用于检测所述天线的驻波比，所述驻波检测装置包括处理器，所述处理器用于：

获取所述天线的测量反射系数；

获取校准参数；

依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数；和

依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比。

上述驻波检测方法、驻波检测装置和电子枪在获取天线的测量反射系数后，还针对测量反射系数通过校准参数计算实际反射系数，并进一步通过实际反射系数计算天线的驻波比，由此得到的天线驻波比的准确度较高。

本发明的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实施方式的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明实施方式的驻波检测方法的流程示意图；

图2是本发明实施方式的电子枪的模块示意图；

图3是本发明实施方式的驻波检测方法的流程示意图；

图4是本发明实施方式的驻波检测方法的流程示意图；

图5是本发明实施方式的电子枪的模块示意图；