[发明专利]驻波检测方法、驻波检测装置和电子枪有效
| 申请号： | 201780016672.3 | 申请日： | 2017-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN108925143B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 邓任钦;陈涛;汤一君 | 申请（专利权）人： | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10 |
| 代理公司： | 北京励诚知识产权代理有限公司 11647 | 代理人： | 赵爽 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 驻波 检测 方法 装置 电子枪 | ||
1.一种驻波检测方法，用于检测天线组件的天线的驻波比，其特征在于，所述方法包括：
获取所述天线的测量反射系数；
获取校准参数，所述获取校准参数包括：
获取三个参考天线的测量反射系数，三个所述参考天线的实际反射系数为已知；和
将三个已知的所述实际反射系数和对应的三个所述参考天线的所述测量反射系数分别代入以下第一方程式并计算所述校准参数：Γ2A+B-Γ2Γ1C＝Γ1，其中，Γ1为所述测量反射系数，Γ2为所述实际反射系数，A、B、C为所述校准参数；
依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数；和
依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比。
2.根据权利要求1所述的驻波检测方法，其特征在于，所述参考天线包括以下负载中的一种或多种：开路负载、短路负载和匹配负载。
3.根据权利要求1所述的驻波检测方法，其特征在于，所述依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数包括：
依据以下第二方程式计算所述实际反射系数：Γ2＝(Γ1-B)/(A-CΓ1)，其中，Γ1为所述测量反射系数，Γ2为所述实际反射系数，A、B、C为所述校准参数。
4.根据权利要求1所述的驻波检测方法，其特征在于，所述依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比的步骤包括以下步骤：
依据以下第三方程式计算所述驻波比：VSWR＝(1+Γ2)/(1-Γ2)，其中，VSWR为所述驻波比，Γ2为所述实际反射系数。
5.根据权利要求1所述的驻波检测方法，其特征在于，所述获取所述天线的测量反射系数包括：
检测所述天线的入射波功率和反射波功率；和
依据以下第四方程式计算所述测量反射系数：Γ1＝b/a，其中，Γ1为所述测量反射系数，b为所述反射波功率，a为所述入射波功率。
6.根据权利要求5所述的驻波检测方法，其特征在于，所述天线组件还包括测试电路板，所述测试电路板包括用于检测所述天线的入射波功率的入射耦合支路，和用于检测所述天线的反射波功率的反射耦合支路，所述检测所述天线的入射波功率和反射波功率包括：
通过所述入射耦合支路检测所述入射波功率；和
通过所述反射耦合支路检测所述反射波功率。
7.一种驻波检测装置，用于检测天线组件的天线的驻波比，其特征在于，所述驻波检测装置包括处理器，所述处理器用于：
获取所述天线的测量反射系数；
获取校准参数，所述获取校准参数包括：
获取三个参考天线的测量反射系数，三个所述参考天线的实际反射系数为已知；和
将三个已知的所述实际反射系数和对应的三个所述参考天线的所述测量反射系数分别代入以下第一方程式并计算所述校准参数：Γ2A+B-Γ2Γ1C＝Γ1，其中，Γ1为所述测量反射系数，Γ2为所述实际反射系数，A、B、C为所述校准参数；
依据所述测量反射系数和所述校准参数计算所述天线的实际反射系数；和
依据所述实际反射系数计算所述天线的驻波比。
8.根据权利要求7所述的驻波检测装置，其特征在于，所述驻波检测装置还包括存储器，所述存储器用于存储第一方程式：Γ2A+B-Γ2Γ1C＝Γ1。
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