[实用新型]质谱系统有效

专利信息
申请号: 201721801756.1 申请日: 2017-12-21
公开(公告)号: CN207752965U 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: N·T·莫利森;J·A·卡雷拉;J·T·梅兹;S·T·夸姆比 申请(专利权)人: 萨默费尼根有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;H01J49/06
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈洁;姬利永
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 离子光学 堆栈 中心纵向轴线 对准 圆形透镜 孔口 目标呈现 目标定位 同心的 界定 种质 观察 统一
【说明书】:

一种质谱系统,包含界定中心纵向轴线的离子光学件堆栈。所述离子光学件堆栈包含具有第一直径的圆形透镜孔口和具有第二直径的圆形对准目标。所述第二直径小于所述第一直径。所述圆形对准目标定位成使得当所述离子光学件堆栈对准时,肉眼观察者沿着所述离子光学件堆栈的所述中心纵向轴线观察时所述圆形透镜孔口和圆形对准目标呈现为同心的。

技术领域

本公开大体上涉及包含通过孔口瞄准使离子光学件对准的质谱领域。

背景技术

质谱法是一种分析化学技术,其可以通过测量气相离子的质荷比和丰度来识别存在于样本中的化学物质的量和类型。通常,离子沿着路径从离子源行进到质量分析器。需要沿着所述路径对离子光学组件的精确对准,以获得良好传输,所述良好传输是必需的以使足够的离子达到质量分析器以供分析。通常,离子光学件必须是平行的且中心对准,公差在~50μm内。

先前,精确对准需要机械加工高公差零件或使用复杂的装配夹具。精确机械加工可能是昂贵的,且由于夹具不容易获得,因此使用装配夹具使现场更换零件变得困难。

因而,需要一种准确且精确地使离子光学件组件对准而不消耗精确机械加工零件或复杂装配夹具的新方法。

实用新型内容

在第一方面中,质谱系统可包含离子光学件堆栈。离子光学件堆栈可界定中心纵向轴线且可包含具有第一直径的圆形透镜孔口和具有第二直径的圆形对准目标。第二直径小于第一直径。圆形对准目标可定位成使得当离子光学件堆栈对准时,肉眼观察者沿着离子光学件堆栈的中心纵向轴线观察时圆形透镜孔口和圆形对准目标呈现为同心的。

在第一方面的各种实施例中,对准目标可以是质谱系统的内表面上的圆形标记。

在第一方面的各种实施例中,圆形透镜孔口和圆形对准目标可具有不小于约50%,例如不小于约80%的内圆百分比。

在第一方面的各种实施例中,当离子光学件堆栈可能对准时,圆形透镜孔口和圆形对准目标可具有不小于约0.4,例如不小于约1.2的偏移率。

在第一方面的各种实施例中,当离子光学件堆栈可能对准时,圆形透镜孔口和圆形对准目标具有不小于约4,例如不小于约6的间隙偏移率。

在第一方面的各种实施例中,离子光学件堆栈可进一步包含第二透镜孔口,且当离子光学件堆栈对准时,沿着离子光学件堆栈观察时圆形透镜孔口、第二透镜孔口与圆形对准目标呈现为同心的。

在第二方面中,用于使质谱系统内的离子光学件堆栈对准的方法可包含将离子光学件堆栈插入到质谱系统中。离子光学件堆栈可包含圆形对准导向器且界定中心纵向轴线。所述质谱系统可包含圆形对准目标。方法可进一步包含调整离子光学件堆栈的对准,直到当肉眼观察者沿着离子光学件堆栈的中心纵向轴线观察时对准导向器和对准目标呈现为同心的为止。

在第二方面的各种实施例中,调整离子光学件堆栈的对准可包含调整一个或多个对准螺钉。

在第二方面的各种实施例中,方法可进一步包含将离子光学件堆栈紧固于对准位置中。

在第二方面的各种实施例中,圆形对准导向器和圆形对准目标可具有不小于约50%,例如不小于约80%的内圆百分比。

在第二方面的各种实施例中,调整离子光学件堆栈的对准可包含调整对准直到圆形对准导向器和圆形对准目标具有不小于约0.4,例如不小于约1.2的偏移率为止。

在第二方面的各种实施例中,调整离子光学件堆栈的对准可包含调整对准直到圆形对准导向器和圆形对准目标具有不小于约4,例如不小于约6的间隙偏移率为止。

在第二方面的各种实施例中,圆形对准导向器可以是离子光学件堆栈的透镜孔口。在特定实施例中,圆形对准目标可以是第二离子光学件堆栈的透镜孔口。在特定实施例中,圆形对准目标可以是质谱系统的内表面上的圆形标记。

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