[实用新型]一种二极管芯片检测装置

说明书

本实用新型公开了一种二极管芯片检测装置，包括工作台，所述工作台的上端一侧固定连接有支撑柱，且支撑柱的上端设有支撑板，所述支撑板的下端安装有气缸，所述气缸通过活塞杆连接有安装板，且安装板的外壁一侧安装有两个对称的安装壳，所述安装壳的内部设有针腔，所述针腔内设有测试针，所述测试针的上端外壁固定连接有环形卡块，所述环形卡块的上端均匀环绕设有若干个弹簧，所述测试针的上端设有第一引线，所述工作台的上端设有托板，且托板的上端设有测试芯片。本实用新型结构简单，易操作，有效的检测二极管芯片的性能，避免测试针的针头发生形变，延长测试针的使用寿命，使用时便捷巧妙，适宜广泛推广。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，尤其涉及一种二极管芯片检测装置。

背景技术

在二极管芯片的研发及大规模生产过程中，均需要对芯片的各类性能进行测试。传统测试方法是人工测试，直接拿着测试装置对芯片进行测试，比较的费事费力，并且由人工进行测试时，存在着明显个体差异，经验丰富的技工进行测试时，芯片测试的结果具有一定的可靠性和准确性，但是经验欠缺的技工测试时，芯片测试的结果不具有参考性。测试时，测试治具会和芯片发生碰撞，容易造成测试治具的变形，导致测试治具寿命减少。测试治具的变形过大，在测试中是不可接受的，会误造成很多测试不良。

实用新型内容

为了解决上述背景技术中提到的问题，本实用新型提供一种二极管芯片检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种二极管芯片检测装置，包括工作台，所述工作台的上端一侧固定连接有支撑柱，且支撑柱的上端设有支撑板，所述支撑板的下端安装有气缸，所述气缸通过活塞杆连接有安装板，且安装板的外壁一侧安装有两个对称的安装壳，所述安装壳的内部设有针腔，所述针腔内设有测试针，所述测试针的上端外壁固定连接有环形卡块，所述环形卡块的上端均匀环绕设有若干个弹簧，且弹簧远离环形卡块的一端与针腔的顶壁固定连接，所述测试针的上端设有第一引线，所述第一引线的上端连接有第二引线，所述工作台的上端设有托板，且托板的上端设有测试芯片。

优选地，所述弹簧的个数为5-10个。

优选地，所述测试针的下端穿过针腔的内壁向外延伸，且测试针的延伸端设有针头。

优选地，所述第一引线为螺旋形结构。

优选地，所述安装壳的内壁设有供第一引线穿过的通孔，且通孔与针腔连通。

优选地，所述第二引线的外壁设有保护胶套，所述保护胶套固定于安装壳的上端。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：将测试芯片放置于托板的上端，气缸实现了安装板的升降功能，便于对测试针进行测试，由于测试针下降时具有一定的速度，测试针对待测试点产生了部分冲击力，此时，测试针在针腔内向上运动，导致弹簧被压缩，从而缓冲了针头与待测试点之间的冲击力，保护了测试针的针头和测试芯片，冲击力消失后，针头与待测试点能够完全贴合，可以接通电源，进行测试。本实用新型结构简单，易操作，有效的检测二极管芯片的性能，避免测试针的针头发生形变，延长测试针的使用寿命，使用时便捷巧妙，适宜广泛推广。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型A结构放大示意图。

图中：工作台1、支撑柱2、支撑板3、气缸4、安装板5、安装壳6、针腔7、测试针8、环形卡块9、弹簧10、第一引线11、第二引线12、通孔13、保护胶套14、托板15、测试芯片16。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。