[实用新型]一种二极管芯片检测装置有效
申请号: | 201721708038.X | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN207542200U | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 陈创;高萌 | 申请(专利权)人: | 徐州市晨创电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 221000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 上端 测试针 二极管芯片 工作台 本实用新型 环形卡块 检测装置 安装板 安装壳 支撑板 支撑柱 气缸 托板 针腔 活塞杆连接 测试芯片 均匀环绕 上端外壁 使用寿命 延长测试 形变 弹簧 外壁 下端 针头 对称 检测 | ||
1.一种二极管芯片检测装置,包括工作台(1),其特征在于:所述工作台(1)的上端一侧固定连接有支撑柱(2),且支撑柱(2)的上端设有支撑板(3),所述支撑板(3)的下端安装有气缸(4),所述气缸(4)通过活塞杆连接有安装板(5),且安装板(5)的外壁一侧安装有两个对称的安装壳(6),所述安装壳(6)的内部设有针腔(7),所述针腔(7)内设有测试针(8),所述测试针(8)的上端外壁固定连接有环形卡块(9),所述环形卡块(9)的上端均匀环绕设有若干个弹簧(10),且弹簧(10)远离环形卡块(9)的一端与针腔(7)的顶壁固定连接,所述测试针(8)的上端设有第一引线(11),所述第一引线(11)的上端连接有第二引线(12),所述工作台(1)的上端设有托板(15),且托板(15)的上端设有测试芯片(16)。
2.根据权利要求1所述的一种二极管芯片检测装置,其特征在于:所述弹簧(10)的个数为5-10个。
3.根据权利要求1所述的一种二极管芯片检测装置,其特征在于:所述测试针(8)的下端穿过针腔(7)的内壁向外延伸,且测试针(8)的延伸端设有针头。
4.根据权利要求1所述的一种二极管芯片检测装置,其特征在于:所述第一引线(11)为螺旋形结构。
5.根据权利要求1所述的一种二极管芯片检测装置,其特征在于:所述安装壳(6)的内壁设有供第一引线(11)穿过的通孔(13),且通孔(13)与针腔(7)连通。
6.根据权利要求1所述的一种二极管芯片检测装置,其特征在于:所述第二引线(12)的外壁设有保护胶套(14),所述保护胶套(14)固定于安装壳(6)的上端。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造