[实用新型]一种平行光检测装置及系统有效

专利信息
申请号: 201721197929.3 申请日: 2017-09-19
公开(公告)号: CN207923419U 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 马晓燠 申请(专利权)人: 马晓燠
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/26
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 宋南
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
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【说明书】:

本实用新型提供了一种平行光检测装置及系统,其中,该检测装置包括:反射部件、移动部件和检测部件;反射部件安装在移动部件上,且移动部件带动反射部件进行移动;反射部件,用于在移动部件的带动下按照预设角度对入射的待测光束进行扫描采样,将扫描采样后的各个子待测光束依次传输至检测部件;预设角度为反射部件的入射光束与出射光束的夹角;检测部件,用于接收反射部件传输的各个子待测光束,输出对各个子待测光束进行成像和光电转换处理后的光斑质心坐标。本实用新型提供的平行光检测装置及系统,采用反射部件对入射的待测光束按照预设角度进行扫描采样,实现大视场角下的平行光检测,适用性更佳,且结构简单,成本较低。

技术领域

本实用新型涉及平行光检测技术领域,具体而言,涉及一种平行光检测装置及系统。

背景技术

平行光被广泛应用于系统标定和光学检测等各个领域中,而平行光的产生和检测是两个最为关键的技术。其中,上述平行光的产生可以通过平行光管实现,该平行光管是一种用于将由光源入射的光转变成待测光束的装置,可用来模拟无穷远目标。另外,上述平行光的检测可以采用哈特曼波前传感器进行检测。

相关技术提供了一种基于哈特曼波前传感器的平行光检测装置,该检测装置包括缩束匹配单元、以及由微透镜阵列和电荷耦合元件(CCD,Charge-coupled Device)靶面构成的哈特曼波前传感器,其通过上述哈特曼波前传感器检测得到平行光管入射的待测光束的离焦、倾斜等信息以便根据该信息判断待测光束是否是平行光。

发明人在研究中发现,上述平行光检测装置受限于微透镜阵列的制作工艺使得检测的视场角较小,适用性较差,且为了匹配该微透镜阵列需要相应的缩束匹配单元,结构复杂,成本较高。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种平行光检测装置及系统,采用反射部件依次扫描采样入射光束的方式实现大视场角下的平行光检测,适用性更佳,且结构简单,成本较低。

第一方面,本实用新型提供了一种平行光检测装置,包括:反射部件、移动部件和检测部件;所述反射部件安装在所述移动部件上,且所述移动部件带动所述反射部件进行移动;

所述反射部件,用于在所述移动部件的带动下按照预设角度对入射的待测光束进行扫描采样,将扫描采样后的各个子待测光束依次传输至所述检测部件;所述预设角度为所述反射部件的入射光束与出射光束的夹角;

所述检测部件,用于接收所述反射部件传输的各个子待测光束,输出对各个子待测光束进行成像和光电转换处理后的光斑质心坐标。

结合第一方面,本实用新型提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,所述检测部件包括检测面;

所述移动部件带动所述反射部件在垂直于所述检测面的方向上进行移动。

结合第一方面,本实用新型提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,所述检测部件包括聚焦透镜和光电传感器;

所述聚焦透镜,用于接收所述反射部件传输的各个子待测光束,根据光学原理对所述各个子待测光束分别进行聚焦成像处理,得到聚焦光斑信号;

所述光电传感器,用于接收所述聚焦光斑信号,对所述聚焦光斑信号进行光电转换处理,得到电信号,所述电信号对应于所述光斑质心坐标。

结合第一方面的第二种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,所述光电传感器包括CCD传感器和PSD传感器中的任意一种。

结合第一方面的第二种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,所述检测部件还包括信号调节器;所述信号调节器包括放大电路、滤波电路和模数转换电路;所述放大电路、所述滤波电路和所述模数转换电路依次相连;

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