[实用新型]一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统有效
申请号: | 201720967220.0 | 申请日: | 2017-08-04 |
公开(公告)号: | CN207133206U | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 芦少翔;杨国芳;左培庆;王伟湘 | 申请(专利权)人: | 武汉三联特种技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01S17/08 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)42231 | 代理人: | 黄君军 |
地址: | 430312 湖北省武汉市黄陂区*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 自动 获取 曝光 参数 无损 检测 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及无损检测技术,尤其是涉及一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统。
背景技术
目前,在进行现场无损检测技术领域,一般为现场检测人员根据委托单位给出的初始参数(例如待测物的厚度)及现场实测的X射线机的焦距确定曝光参数,然后按上述曝光参数控制X射线机进行无损检测。无损检测过程中,现场检测人员填写现场检测记录表,并将其整理上传至相关人员,并由相关人员进行整理以形成无损检测报告。在上述过程中,由现场检测人员填写曝光参数的实时记录并整理上传,其不利于后续的及时审核,导致检测效率低下,而且由现场检测人员填写的检测数据的客观性和真实性难以得到保障,其不利于保证无损检测的质量和待测物的安全使用。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服上述技术不足,提出一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统,解决现有技术中人工记录并上传检测数据而导致检测效率低下、无损检测质量无法保证的技术问题。
为达到上述技术目的,本实用新型的技术方案提供一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统,包括:
一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统,其特征在于,包括:
服务器;
控制台,其包括一控制平板、一控制器及一曝光参数采集模块,所述曝光参数采集模块包括一用于记录X射线机的曝光时间的曝光时间记录单元、一用于测量X射线机的管电流的管电流测量单元、用于测量X射线机的管电压的管电压测量单元、及一用于采集X射线机的焦距的焦距采集单元,所述曝光时间记录单元、管电流测量单元、管电压测量单元和焦距采集单元均与所述控制器连接;所述控制平板与所述服务器无线通信连接并用于将获得的X射线机的管电流、管电压、曝光时间和焦距发送至服务器。
与现有技术相比,本实用新型设置曝光参数采集模块,其可通过曝光时间记录单元、管电流测量单元、管电压测量单元和焦距采集单元实时获取无损检测过程中X射线机的曝光时间、管电流、管电压和焦距,并将其通过控制平板发送至服务器,其提高了监管人员获取现场检测数据的效率,避免了现场检测数据的主观性及虚假性,保证了无损检测的质量及待测物的安全使用。
附图说明
图1是本实用新型的无损检测装置的连接结构示意图;
图2是本实用新型的X射线机在测距状态下的连接结构示意图;
图3是本实用新型的X射线机在检测状态下的连接结构示意图;
图4是本实用新型的图3的A部放大图;
图5是本实用新型的无损检测系统的连接框图;
图6是本实用新型的管电压测量单元的电路原理图;
图7是本实用新型的管电流检测单元的电路原理图;
图8是本实用新型的服务器的连接框图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
如图1~7所示,本实用新型提供了一种无损检测系统,其包括服务器100和无损检测装置200,该无损检测装置200包括X射线机21、激光测距仪22、控制台23、电缆线24及定位组件25。
如图1~3所示,X射线机21包括X射线机本体211及设于所述X射线机本体211一侧的射线窗口212,X射线机本体211的X射线发生器211a可发出穿过射线窗口212并延伸至待测物的检测点的X射线。
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