[实用新型]一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统有效
| 申请号： | 201720967220.0 | 申请日： | 2017-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN207133206U | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 芦少翔;杨国芳;左培庆;王伟湘 | 申请（专利权）人： | 武汉三联特种技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01S17/08 |
| 代理公司： | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)42231 | 代理人： | 黄君军 |
| 地址： | 430312 湖北省武汉市黄陂区*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 自动 获取 曝光 参数 无损 检测 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统，其特征在于，包括：
服务器；
控制台，其包括一控制平板、一控制器及一曝光参数采集模块，所述曝光参数采集模块包括一用于记录X射线机的曝光时间的曝光时间记录单元、一用于测量X射线机的管电流的管电流测量单元、用于测量X射线机的管电压的管电压测量单元、及一用于采集X射线机的焦距的焦距采集单元，所述曝光时间记录单元、管电流测量单元、管电压测量单元和焦距采集单元均与所述控制器连接；所述控制平板与所述服务器无线通信连接并用于将获得的X射线机的管电流、管电压、曝光时间和焦距发送至服务器。
2.根据权利要求1所述的基于自动获取曝光参数的无损检测系统，其特征在于，所述无损检测系统还包括一用于检测X射线机的焦距的激光测距仪，所述焦距采集单元与所述激光测距仪电连接。
3.根据权利要求2所述的基于自动获取曝光参数的无损检测系统，其特征在于，所述曝光参数采集模块还包括用于将管电流测量单元和管电压测量单元测量的管电流和管电压进行光电隔离的光耦隔离单元。
4.根据权利要求3所述的基于自动获取曝光参数的无损检测系统，其特征在于，所述控制器采用型号为STM32f103ZET6的单片机。
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