[实用新型]硅异质结太阳电池有效
申请号: | 201720708354.0 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN207233747U | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 王伟;田宏波;赵晓霞;王恩宇;宗军;李洋;杨瑞鹏;周永谋 | 申请(专利权)人: | 国家电投集团科学技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/074 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 赵天月 |
地址: | 102209 北京市昌平区未来科技城国*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅异质结 太阳电池 | ||
1.一种硅异质结太阳电池,其特征在于,包括:
n型晶硅衬底;
第一轻掺杂n型氢化非晶硅层,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层设置在所述n型晶硅衬底的上表面;
重掺杂p型氢化非晶硅发射极层,所述重掺杂p型氢化非晶硅发射极层设置在所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层的上表面;
第一透明导电氧化物层,所述第一透明导电氧化物层设置在所述重掺杂p型氢化非晶硅发射极层的上表面;
第二轻掺杂n型氢化非晶硅层,所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层设置在所述n型晶硅衬底的下表面;
重掺杂n型氢化非晶硅背场层,所述重掺杂n型氢化非晶硅背场层设置在所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层的下表面;
第二透明导电氧化物层,所述第二透明导电氧化物层设置在所述重掺杂n型氢化非晶硅背场层的下表面;
多个金属栅线电极层,所述多个金属栅线电极层间隔设置在所述第一透明导电氧化物层的上表面和所述第二透明导电氧化物层的下表面。
2.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述n型晶硅衬底为n型单晶硅衬底或n型多晶硅衬底,所述n型晶硅衬底的掺杂浓度为1015~1019/cm3,所述n型晶硅衬底的厚度为50~200μm。
3.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层、所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层和所述重掺杂n型氢化非晶硅背场层的掺杂气体分别独立地包括选自磷化氢或砷化氢中的至少之一。
4.根据权利要求3所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层和所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层的掺杂浓度为108~1017/cm3,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层和所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层的厚度为1~15nm。
5.根据权利要求4所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层和所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层的掺杂浓度为1015~1017/cm3,所述第一轻掺杂n型氢化非晶硅层和所述第二轻掺杂n型氢化非晶硅层的厚度为3~15nm。
6.根据权利要求3所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述重掺杂n型氢化非晶硅背场层的掺杂浓度为1016~1019/cm3,所述重掺杂n型氢化非晶硅背场层的厚度为5~25nm。
7.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述重掺杂p型氢化非晶硅发射极层的掺杂气体包括选自硼烷、乙硼烷、三甲基硼烷和三氟化硼中的至少之一。
8.根据权利要求6所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述重掺杂p型氢化非晶硅发射极层的掺杂浓度为1016~1021/cm3,所述重掺杂p型氢化非晶硅发射极层的厚度为5~25nm。
9.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述第一透明导电氧化物层和所述第二透明导电氧化物层的厚度为50~300nm。
10.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述金属栅线电极层包括Cu或Cu与Mo、W、Ti、Ni、Cr、Al、Mg、Ta、Sn、Zn、Ag、P中的至少之一所形成的合金,
或者,所述金属栅线电极层包括Ag或Ag的合金。
11.根据权利要求1所述的硅异质结太阳电池,其特征在于,所述金属栅线电极层的厚度为2~100μm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的