[实用新型]一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电容器生产的测试设备，尤其涉及一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具。

背景技术

现有的电容器都是先将导针铆接在极箔上，然后进行卷绕。导针铆接的质量直接影响整个电容器的好坏，铆接的好坏可通过测试极箔与导针之间的电阻来确定，然而在测试的时候由于在阳极箔表面形成有一层三氧化二铝的氧化膜，正极测试针和负极测试针需要将三氧化二铝刺穿才能够测试极箔与导针之间的电阻，故在测试的时候非常容易出现不稳定的现象，往往导致测试出来的电阻偏大，不能够真实的反应极箔与导针之间的电阻。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种操作简单、能够真实的测量极箔和导针之间的电阻的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具。

为解决上述技术问题，本实用新型提出的技术方案为：一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，包括底座、压板和测试针组件，所述底座的中部固定设置有绝缘垫板，所述底座的两侧均设置有立柱，立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出，压板能沿立柱上下移动；所述测试针组件固定设置在压板的中部；所述测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针，所述三根正极测试针成一排设置，两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧；所述两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。本实用新型中，在测试极箔和导针之间的电阻的时候，先将待测试的带有导针的极箔伸入到绝缘垫板上，将压板压下，这时正极测试针和负极测试针下端的圆锥形尖端刺穿极箔上的三氧化二铝氧化膜和导针上的氧化膜，这样正极测试针和负极测试针能够分别直接接触导针和极箔的内部，这样测试出来的电阻是最真实的，能够真实的反应铆接的效果。在实用新型中设置有三根正极测试针和两根负极测试针，这样只要有一根正极测试针和一根负极测试针将导针和极箔表面的氧化膜刺穿就能够完成测试，这样能够保证测试的稳定性。

上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述测试组件固定设置在连接块上，所述连接块通过卡槽设置在压板上；所述连接块可在压板上滑动。本实用新型中，由于每种电容器的型号和尺寸不同，在测试导针和极箔之间的电阻的时候，正极测试针会不可避免的可能之间顶在铆花上，这样不能够真实的反应导针和极箔之间的电阻，此时可以移动测试组件使得正极测试针能够准确的顶在导针上。

上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，负极测试针和正极测试针均包括探针，所述探针的下端呈尖锐的圆锥形，上端设置有导线连接部，所述导线焊接在导线连接部上，所述探针通过缓冲组件连接在压板上。探针下端尖锐的圆锥形在测试的时候刺穿极箔和导针表面的氧化膜。

上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述缓冲组件包括固定设置在压板顶部的盖板、缓冲弹簧和设置在正极测试针或者负极测试针中部的凸块，所述缓冲弹簧设置在凸块和盖板之间；所述正极测试针的中部、负极测试针的中部和凸块的表面设置有一个绝缘层。由于正极测试针和负极测试针的是导电的，故需要在正极测试针和负极测试针的中部以及凸块的表面设置一个绝缘层。同时缓冲组件的设置能够在刺穿导针和极箔表面氧化膜的时候起到缓冲作用，防止一下子将极箔刺穿，同时防止钢性碰撞将圆锥形尖端损坏。本实用新型中，正极测试针的中部、负极测试针的中部和凸块的表面的绝缘层可以是涂覆上去的绝缘材料，也可以是镀上去的绝缘膜。

上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述正极测试针的下端比负极测试针的下端高0.1-1mm。因为导针铆接在极箔上后，导针的铝舌是有一定厚度的，其厚度一般在0.1-1mm之间。

上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述底座和压板之间通过螺纹杆连接在一起。通过螺纹杆可以控制压板和底座之间的距离。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：本实用新型的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具能够准确的测量导针与极箔之间的电阻，从而评价导针的铆接效果；并且本实用新型的测试治具非常稳定。

附图说明

图1为本实用新型中用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具的结构示意图。

图2 为本实用新型中测试针组件的结构示意图。

图例说明