[实用新型]一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具有效

专利信息
申请号: 201720656465.1 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN206945749U 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 艾茂;彭国 申请(专利权)人: 益阳市安兴电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073;G01R27/02
代理公司: 安化县梅山专利事务所43005 代理人: 夏赞希
地址: 413000 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 电容器 铆接 阻抗 测试
【权利要求书】:

1.一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:包括底座、压板和测试针组件,所述底座的中部固定设置有绝缘垫板,所述底座的两侧均设置有立柱,立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出,压板能沿立柱上下移动;所述测试针组件固定设置在压板的中部;所述测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针,所述三根正极测试针成一排设置,两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧;所述两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上,三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。

2.根据权利要求1所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:所述测试组件固定设置在连接块上,所述连接块通过卡槽设置在压板上;所述连接块可在压板上滑动。

3.根据权利要求1或2所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:负极测试针和正极测试针均包括探针,所述探针的下端呈尖锐的圆锥形,上端设置有导线连接部,所述导线焊接在导线连接部上,所述探针通过缓冲组件连接在压板上。

4.根据权利要求3所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:所述缓冲组件包括固定设置在压板顶部的盖板、缓冲弹簧和设置在正极测试针或者负极测试针中部的凸块,所述缓冲弹簧设置在凸块和盖板之间;所述正极测试针的中部、负极测试针的中部和凸块的表面设置有一个绝缘层。

5.根据权利要求3所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:所述正极测试针的下端比负极测试针的下端高0.1-1mm。

6.根据权利要求1所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具,其特征在于:所述底座和压板之间通过螺纹杆连接在一起。

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