[实用新型]一种芯片截面显微观察辅助装置有效
| 申请号： | 201720407870.X | 申请日： | 2017-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN206804533U | 公开（公告）日： | 2017-12-26 |
| 发明（设计）人： | 汪沈炎;诸晓燕 | 申请（专利权）人： | 浙江富春江光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 311400 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 截面 显微 观察 辅助 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片截面显微观察辅助装置，其特征是包括基座（1）和粘附搁条（2），基座（1）上设有台阶状的搁条放置槽（3），搁条放置槽（3）具有倾斜的搁条支承面（4）。
2.根据权利要求1所述的芯片截面显微观察辅助装置，其特征是搁条放置槽（3）位于基座（1）的正面和背面。
3.根据权利要求1所述的芯片截面显微观察辅助装置，其特征是基座（1）的正面和背面均设有多道搁条放置槽（3），且各搁条放置槽（3）的搁条支承面（4）倾角各异。
4.根据权利要求1或2或3所述的芯片截面显微观察辅助装置，其特征是粘附搁条（2）的样品固定面上固设有橡胶带（5），橡胶带（5）与粘附搁条（2）的样品固定面长、宽尺寸相同。
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