[实用新型]光伏组件电池串长度测量工装有效
申请号: | 201720083896.3 | 申请日: | 2017-01-20 |
公开(公告)号: | CN206370404U | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
发明(设计)人: | 韩小磊 | 申请(专利权)人: | 金寨协鑫集成科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 237300 安徽省六*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 组件 电池 长度 测量 工装 | ||
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池制造领域,具体涉及一种光伏组件电池串长度测量工装。
背景技术
目前,常规能源的持续使用带来了能源紧缺以及环境恶化等一系列经济和社会问题,发展光伏组件是解决上述问题的途经之一。因此,世界各国都在积极开发光伏组件,而高转换效率、低成本是光伏组件发展的主要趋势,也是技术研究者追求的目标。
现有光伏组件制造过程中,要求电池串统一长度且排列整齐,然而,在更换组件型号时,需要调整电池串焊接配方,因此,电池串的串长也需要重新调整。目前并无测量电池串的串长的专用工装,常采用钢卷尺测量电池串的串长,然而,在测量时,从电池串的两边读数容易增加读数误差,且无法固定被测量的电池串。此外,焊接好的电池串有一定的翘曲度,这也增加了测量的误差。
因此,设计一种光伏组件电池串长度测量工装,能够方便、快捷、准确地测量电池串的串长,缩短测量时间,显然具有积极的现实意义。
发明内容
本实用新型的发明目的是提供一种光伏组件电池串长度测量工装。
为达到上述发明目的,本实用新型采用的技术方案是:一种光伏组件电池串长度测量工装,其包括板式的矩形工装本体,所述矩形工装本体的正面从上到下等间距设有四条沿其长度方向的矩形凹槽,第一条矩形凹槽和第二条矩形凹槽之间以及第三条矩形凹槽和第四条矩形凹槽之间等间距设有复数个第一挡板,所述第一挡板的长度方向垂直于矩形工装本体的长度方向,所述第四条矩形凹槽下方等间距设有复数个第二挡板,所述第二挡板的长度方向平行于矩形工装本体的长度方向,所述矩形工装本体正面设有从其右侧边缘向左延伸的刻度线。
上文中,位于第一条矩形凹槽和第二条矩形凹槽之间的第一挡板与位于第三条矩形凹槽和第四条矩形凹槽之间的第一挡板一一对齐。
优选地,所述矩形工装本体为表面光滑的铝质矩形工装本体。
优选地,所述矩形工装本体的长度为1951~1961mm,宽度为223~225mm,厚度为1.9~2.1mm。
优选地,所述矩形凹槽的宽度为14~16mm,深度为0.24~0.26mm,相邻两条所述矩形凹槽之间的间距为24~26mm,所述第一条矩形凹槽到矩形工装本体上边缘的距离为43~45mm,所述第四条矩形凹槽到矩形工装本体下边缘的距离为44~46mm。
优选地,所述第一挡板的长度为19~21mm,宽度为0.9~1.1mm,厚度为1.9~2.1mm,相邻两个所述第一挡板之间的间距为157~158mm。
优选地,所述第二挡板的长度为19~21mm,宽度为1.9~2.1mm,厚度为1.9~2.1mm,相邻两个所述第二挡板之间的间距为59~61mm,所述第二挡板到矩形工装本体下边缘的距离为27~29mm。
进一步地,所述矩形工装本体的背面位于矩形工装本体的上边缘和下边缘各设有一个第三挡板,所述第三挡板垂直于矩形工装本体的背面。
优选地,所述第三挡板的长度为1951~1961mm,宽度为9~11mm,厚度为1.9~2.1mm。
进一步地,所述矩形工装本体的下边缘上设有把手,所述把手的厚度为7~9mm。
优选地,所述把手为胶合把手。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:
1.本实用新型通过在工装本体上设置刻度线,该刻度从工装本体的右侧边缘开始向左侧延伸,工装本体的正面设置有电池串的挡板和凹槽,能够方便快捷地检测电池串的串长,减少测量误差,且测量时可对电池串进行固定;
2.本实用新型结构简单,制造方便,适于推广应用。
附图说明
图1是本实用新型实施例一的结构示意图。
图2是图1的右视图。
其中:1、矩形工装本体;2、矩形凹槽;3、第一挡板;4、第二挡板;5、刻度线;6、第三挡板;7、把手。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述:
实施例一:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造