[发明专利]一种激光粉尘传感器及粉尘浓度采样校零式测量方法在审
| 申请号： | 201711496220.8 | 申请日： | 2017-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN108169089A | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 黄健;雷开跃;李俊杰 | 申请（专利权）人： | 湖北兴业华德威安全信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N21/51 |
| 代理公司： | 武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 | 代理人： | 朱必武 |
| 地址： | 436070 湖北省鄂*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 采集 粉尘 传感器 测量 激光粉尘 激光照射 采样 校零 电路元件参数 粉尘传感器 准确度 暗室结构 激光散射 实时校正 校准 光照射 无粉尘 无光 照射 检测 | ||
1.一种激光粉尘浓度采样校零式测量方法，其特征在于：在一段时间内分光开启和光关闭两个时段进行采集，包括以下步骤：
步骤一：在光开启时段内，MCU单元控制激光发射二极管发光，MCU单元采集硅光二极管信号为实时环境粉尘浓度采集初值PM1；
步骤二：在光关闭时段内，MCU单元关闭激光发射二极管，MCU单元在关闭激光发射二极管采集的硅光二极管信号为标零值PM0；
步骤三：根据步骤二得出的无粉尘零值与步骤一的实时环境粉尘浓度采集初值做比较，矫正基准零值，得出实时环境粉尘浓度采集值PM＝PM1-PM0。
2.根据权利要求1所述的激光粉尘浓度采样校零式测量方法，其特征在于：所述的一段时间为1s中，其中光开启时段为900ms，光关闭时段为100m。
3.根据权利要求1所述的激光粉尘浓度采样校零式测量方法，其特征在于：所述的一段时间为1s中，其中光开启时段为800ms，光关闭时段为200ms。
4.根据权利要求1所述的激光粉尘浓度采样校零式测量方法，其特征在于：所述的一段时间为0.5s中，其中光开启时段为400ms，光关闭时段为100ms。
5.一种激光粉尘传感器，包括MCU单元、控制电路、转换电路、激光发射二极管和硅光二极管，MCU单元通过控制电路激光发射二极管连接和通过转换电路板与和硅光二极管连接，激光发射二极管和硅光二极管设置于采集暗室内，激光发射二极管发射光束与硅光二极管接受面垂直不在同一水平面，其特征在于：在1s时间内，MCU单元控制激光发射二极管通电开启发光状态900ms，控制激光发射二极管关闭100ms；MCU单元将激光发射二极管关闭时采集的电信号值认为是无粉尘零值PM0；MCU单元将激光发射二极管通电开启发光状态时的电信号值认为是采集初值PM1；将采集初值PM1与无粉尘零值PM0在MCU程序处理逻辑进行比较得到实时环境粉尘浓度采集值PM。
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