[发明专利]一种ASIC芯片中Hash模块的验证方法及装置

说明书

本发明揭示了一种ASIC芯片中Hash模块的验证方法及装置，方法包括建立含有D个随机关键字的关键字动态数组；根据关键字存储器的个数N将关键字动态数组分成2^N‑1个连续的关键字片段，且每个关键字片段不重叠；将每个关键字片段中的关键字按照给定规则配入关键字存储器中，使在每个关键字片段中选取至少一个关键字作为测试激励输入时可获得所有的Hash查找结果；将关键字动态数组中的关键字作为测试激励输入至Hash模块中进行测试。本发明在每个关键字片段中选取至少一个关键字作为激励输入至Hash模块中进行测试时可覆盖所有Hash查找结果，提高了Hash模块验证效率。

技术领域

本发明涉及一种集成电路技术领域，尤其是涉及一种ASIC芯片中Hash模块的验证方法及装置。

背景技术

在ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)芯片中Hash模块通过计算数据元素的存储地址进行查找。其工作过程为：取数据元素的关键字Key，关键字Key经过散列(Hash)函数映射到关键字存储器的某一存储单元，并与该存储单元存储的关键字Key比较后，若匹配，则输出查找结果为Hit(命中)，同时输出该存储单元中存储的相关数据以及位置信息。

Hash模块在使用之前需要对其进行验证，找出其潜在的漏洞。现有技术中使用随机化激励测试方法对其进行验证。当Hash模块中只有一个关键字存储器时，在仿真初始化时通过在关键字存储器中配入随机的关键字，并在仿真开始时发送随机生成的关键字作为输入激励。由于Hash算法的特殊性，关键字存储器中的随机关键字只有极小的概率是按照Hash函数正确映射到存储单元中的。随机生成的关键字只能以极小的概率命中关键字存储器中的关键字。因此，Hash模块在验证时需要发送大量的激励，并进行长时间的回归测试，才能获得足够多的结果为Hit(命中)的查找结果。若想要获得多次连续的结果都为命中的情况，则所需的测试时间可能会多一个数量级，因此使用传统的方法验证Hash模块，效率低。

另外，当Hash模块中存在两个或多个关键字存储器时，此处以两个关键字存储器为例，在验证时，需要覆盖的情况包括(1)同时命中第一关键字存储器和第二关键字存储器(2)命中第一关键字存储器，未命中第二关键字存储器(3)未命中第一关键字存储器，命中第二关键字存储器。采用随机化激励方法覆盖上述三种情况时，需要发送比一个关键字存储器时多得多的激励，验证效率更低。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种ASIC芯片中Hash模块的验证方法及装置，提高Hash模块的验证效率。

为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种ASIC芯片中Hash模块的验证方法，所述Hash模块包括至少一个关键字存储器，方法包括如下步骤：

S1，建立含有D个随机关键字的关键字动态数组；

S2，根据关键字存储器的个数N将关键字动态数组分成2^N-1个连续的关键字片段，且每个关键字片段不重叠；

S3，将每个关键字片段中的关键字按照给定规则配入关键字存储器中，使在每个关键字片段中选取至少一个关键字作为测试激励输入时可获得所有的Hash查找结果；

S4，将关键字动态数组中的关键字作为测试激励输入至Hash模块中进行测试，其中，D为大于或等于1的整数，D2^N-1，N为关键字存储器的个数，N为大于或等于1的整数。

优选地，在步骤S2中，每个关键字片段的长度相同或不同。

优选地，在步骤S3中，将每个关键字片段中的关键字按照给定规则配入关键字存储器中包括如下步骤：

S301，从起始位置开始将C(N，1)个关键字片段分别配入N个关键字存储器中；