[发明专利]用于同位素比质谱法的方法和设备

权利要求书

1.一种具有提高的精确度的同位素比质谱法的方法，包括：

使含有样品的液体移动相以第一流动速率流动通过分离装置，所述样品包括具有待定同位素比的至少一种分子物种，其中所述第一流动速率是对应于所述分离装置的最小理论板高度的最佳流动速率的至少50%；

使流动通过所述分离装置的所述液体移动相的流动速率从所述第一流动速率降低到第二流动速率持续至少一种分子物种从所述分离装置中出现的至少一部分时间，所述第二流动速率低于所述第一流动速率但对应于所述分离装置的更高理论板高度，所述第二流动速率对应于较低的色谱分离有效性和提高的同位素比测量精确度；

至少在所述流动速率降低到所述第二流动速率时，对已从所述分离装置中出现的所述至少一种分子物种进行质量分析；以及

根据所述质量分析从所述至少一种分子物种的至少两个同位素体的质量峰的强度中确定所述至少一种分子物种的至少一个同位素比，其中所述质量分析是通过足够高以分辨处于所述同位素体中的至少一种的标称质量的两个最丰富的质量峰的质量分辨力来执行，其中所述同位素比是元素的同位素比。

2.一种具有提高的精确度的同位素比质谱法的方法，包括：

使含有样品的液体移动相以第一流动速率流动通过分离装置，所述样品包括具有待定同位素比的至少一种分子物种，其中所述第一流动速率是对应于所述分离装置的最小理论板高度的最佳流动速率的至少50%；

使流动通过所述分离装置的所述液体移动相的流动速率从所述第一流动速率降低到第二流动速率持续所述至少一种分子物种从所述分离装置中出现的至少一部分时间，所述第二流动速率低于所述第一流动速率但对应于所述分离装置的更高理论板高度，所述第二流动速率对应于较低的色谱分离有效性和提高的同位素比测量精确度；

至少在所述流动速率降低到所述第二流动速率时，对已从所述分离装置中出现的所述至少一种分子物种进行质量分析；以及

根据所述质量分析从所述至少一种分子物种的至少两个同位素体的质量峰的强度中确定所述至少一种分子物种的至少一个同位素比，其中用于所述同位素比确定的每一同位素体质量峰是从处于相同标称质量的大于所述同位素体质量峰的所述强度的20%的至少任何其它质量峰中分辨的。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述分离装置为液相色谱柱，排阻色谱（SEC）柱，离子色谱（IC）柱、薄层色谱（TLC）板或毛细管电泳（CE）系统。

4.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述分离装置是液相色谱柱，其中所述柱具有内部直径且其中降低所述流动速率包括使所述流动速率从所述第一流动速率降低到所述第二流动速率，所述第二流动速率具有小于由0.06×（以mm为单位的内部直径）²给定值的一半的以mL/min为单位的值。

5.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述液体移动相包括有机溶剂。

6.根据任一前述权利要求所述的方法，其中至少大致在所述至少一种分子物种从所述分离装置中洗脱的全部时间内,所述流动速率降低到所述第二流动速率。

7.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述同位素比确定具有20 δ‰的同位素比精确度。

8.根据任一前述权利要求所述的方法，其中一旦所述至少一种分子物种已大致完成从所述分离装置中洗脱，则所述流动速率从所述第二流动速率提高。

9.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述第二流动速率相较于所述第一流动速率降低至少5倍。

10.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述第一流动速率是所述最佳流动速率的至少80%且所述第二流动速率小于所述最佳流动速率的20%，其中所述第二流动速率相对于所述第一流动速率降低至少5倍，或至少10倍。