[发明专利]晶体管级电路的验证方法、装置、设备及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201711448571.1 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN109977437B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 刘格言 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 由元;武晨燕
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 晶体管 电路 验证 方法 装置 设备 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种晶体管级电路的验证方法,应用于半导体存储器,其特征在于,包括:

建立验证平台,用于模拟所述半导体存储器的晶体管级电路的功能;

将功能测试信号输入至所述晶体管级电路生成第一验证信号,并将所述第一验证信号提供给所述验证平台;

将所述功能测试信号输入至所述验证平台,以对所述功能测试信号进行仿真,并将仿真结果与接收的所述第一验证信号进行比较;以及

根据比较结果输出验证信息;

其中,根据比较结果输出验证信息的步骤包括:

若所述仿真结果与所述第一验证信号一致,则输出第一验证信息,其中,所述第一验证信息表示所述晶体管级电路的功能正确;以及

若所述仿真结果与所述第一验证信号不一致,则输出第二验证信息,其中,所述第二验证信息表示所述晶体管级电路的功能错误;

根据第二验证信息对晶体管级电路进行相对应的修改,其中,所述第二验证信息包括时序功能错误信息和逻辑功能错误信息所构成群组中的其中至少一个。

2.如权利要求1所述的晶体管级电路的验证方法,其特征在于,根据所述第二验证信息对所述晶体管级电路进行修改之后,还包括:

对修改后的所述晶体管级电路进行验证,直至所述晶体管级电路的功能正确。

3.如权利要求1至2任一项所述的晶体管级电路的验证方法,其特征在于,根据固态技术协会协议,利用行为级描述语言结合所述晶体管级电路建立所述验证平台。

4.一种晶体管级电路的验证装置,其特征在于,包括:

验证平台建立模块,用于建立验证平台,用于模拟半导体存储器的晶体管级电路的功能;

晶体管电路验证模块,用于将功能测试信号输入至所述晶体管级电路生成第一验证信号,并将所述第一验证信号提供给所述验证平台;

验证平台仿真模块,用于接收所述功能测试信号,对所述功能测试信号进行仿真,并将仿真结果与接收的所述第一验证信号进行比较;

验证信息生成模块,用于根据比较结果输出验证信息;

其中,所述验证信息生成模块包括:

第一验证信息生成单元,用于生成第一验证信息,若所述仿真结果与所述第一验证信号一致,则输出所述第一验证信息,其中,所述第一验证信息表示所述晶体管级电路的功能正确;以及

第二验证信息生成单元,用于生成第二验证信息,若所述仿真结果与所述第一验证信号不一致,则输出所述第二验证信息,其中,所述第二验证信息表示所述晶体管级电路的功能错误;

以及所述验证信息生产模块还用于根据第二验证信息对晶体管级电路进行相对应的修改,其中,所述第二验证信息包括时序功能错误信息和逻辑功能错误信息所构成群组中的其中至少一个。

5.一种晶体管级电路的验证设备,其特征在于,包括:

一个或多个处理器;

存储器,用于存储一个或多个程序;

当一个或多个所述程序被一个或多个所述处理器执行时,使得一个或多个所述处理器实现如权利要求1-3中任一所述的晶体管级电路的验证方法。

6.一种计算机可读存储介质,其存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一所述的晶体管级电路的验证方法。

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