[发明专利]一种FP干涉测量角量传感器

权利要求书

1.一种FP干涉测量角量传感器，包括转盘(1)，其特征在于：所述转盘(1)上的四周均贯穿有圆形磁栅尺(2)，所述转盘(1)的底部且与圆形磁栅尺(2)相对应的位置设置有传感探头(3)，所述传感探头(3)的底部通过连接软管固定连接有第一圆筒外壳(4)，并且第一圆筒外壳(4)的底部连通有第二圆筒外壳(5)，所述第一圆筒外壳(4)内部的顶端活动连接有环氧树脂块(6)，并且环氧树脂块(6)的底部固定连接有第一APC(7)，所述第一APC(7)的表面且位于环氧树脂块(6)与挡板(8)之间固定连接有弹簧(13)，所述第一APC(7)的表面且位于第一圆筒外壳(4)的内部固定连接有挡板(8)，所述第一APC(7)的表面且位于第二圆筒外壳(5)的内部连通有FP腔(19)，所述第一APC(7)与第二圆筒外壳(5)底部的交界处连通有锥形管(14)，所述第一APC(7)远离环氧树脂块(6)的一端活动连接有第二APC(9)，并且第二APC(9)的一端设置有金属护套管(10)，所述金属护套管(10)的表面固定连接有塑料外壳(11)，所述塑料外壳(11)的内部且位于金属护套管(10)的一端固定连接有永磁体(12)；

所述第一APC(7)远离环氧树脂块(6)的一端从上至下一次贯穿第一圆筒外壳(4)和第二圆筒外壳(5)且延伸至第二圆筒外壳(5)的外部。

2.一种权利要求1所述的FP干涉测量角量传感器的实验测试流程，其特征在于，具体包括以下步骤：

S1、在直流电机(15)右端用电子测速仪(16)记录直流电机(15)的转角与转速；

S2、设置的八个永磁体(12)组成圆形磁栅尺(2)，圆形磁栅尺(2)固定在直流电机(15)的左端，直流电机(15)的磁头对准圆形磁栅尺(2)其中一个磁栅位置；

S3、ASE(17)光源发出的宽谱光经过光纤环形器(18)入射到FP腔(19)；

S4、直流电机(15)的传感探头(3)和FP腔(19)受与圆形磁栅尺(2)磁栅作用力产生形变，光谱分析仪(20)对反射谱通过解调仪(21)进行寻峰处理，并通过上位机软件将中心波长值解调为FP腔(19)的波谷变化。

3.根据权利要求2所述的实验测试流程，其特征在于：在S1中，所述直流电机(15)通过电源模块(22)提供电能，并且直流电机(15)由电机控制器(23)进行速度的控制调节。

4.根据权利要求2所述的实验测试流程，其特征在于：在S2中，所述圆形磁栅尺(2)上设置的转盘以5.625°的增量从0°旋转到360°，进行角度实验的静态校准，光谱分析仪(20)记录0°、15°、30°和45°旋转角的FP腔(19)的反射光谱，并拟合FP腔(19)波谷的变化。

5.根据权利要求2所述的实验测试流程，其特征在于：所述光纤环形器(18)、光谱分析仪(20)和FP腔(19)的端口均与50:50耦合比的1×2耦合器(24)的端口连接。