[发明专利]一种柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法有效
| 申请号: | 201711441256.6 | 申请日: | 2017-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN108336179B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
| 发明(设计)人: | 孙希鹏;李晓东;铁剑锐;杜永超;梁存宝;王鑫 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所;天津恒电空间电源有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
| 代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 刘昕 |
| 地址: | 300384 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 柔性 空间 用三结 太阳电池 减反射膜 制备 方法 | ||
1.一种柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法,其特征在于:在常温下,采用电子束热蒸发和离子源辅助沉积相结合的方法在所述太阳电池表面沉积所述减反射膜,所述离子源辅助沉积的离子源为MarkⅡ型霍尔离子源,所述霍尔离子源的阳极加速电压为150V~180V,辅助粒子束流为5A~6A。
2.根据权利要求1所述柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法,其特征在于:所述减反射膜包括TiOx薄膜和SiO2薄膜。
3.根据权利要求2所述柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法,其特征在于:所述TiOx薄膜的沉积速率为0.3nm/s~0.45nm/s,沉积厚度为50nm~55nm;所述SiO2薄膜的沉积速率为0.55nm/s~0.75nm/s,沉积厚度为88nm~95nm。
4.根据权利要求3所述柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法,其特征在于:所述TiOx薄膜沉积时的蒸发源材料是底面直径为1cm、高为1cm的圆柱形材料;所述SiO2薄膜沉积时的蒸发源材料是直径为2mm~4mm的颗粒。
5.根据权利要求4所述柔性空间用三结太阳电池减反射膜制备方法,其特征在于:所述减反射膜的沉积在真空度达到10-3Pa以下的真空环境下进行,充入的工作气体使所述真空环境的气压范围在1×10-2Pa~3×10-2Pa之间。
6.一种使用如权利要求5所述制备方法制备的柔性空间用三结太阳电池减反射膜,其特征在于:依次包括折射率范围为2.20~2.25的TiOx薄膜和折射率范围为1.44~1.46的SiO2薄膜。
7.根据权利要求6所述柔性空间用三结太阳电池减反射膜,其特征在于:所述TiOx薄膜的厚度为53nm;所述SiO2薄膜的厚度为90nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十八研究所;天津恒电空间电源有限公司,未经中国电子科技集团公司第十八研究所;天津恒电空间电源有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711441256.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





