[发明专利]存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及电子装置有效

专利信息
申请号: 201711440910.1 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN109979519B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 叶润林 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12;G11C29/50
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 完整性 检验 方法 非易失性存储器 以及 电子 装置
【说明书】:

发明提供一种存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及电子装置。所述方法包括下列步骤。获得非易失性存储器中至少一待检验存储单元的阀值电压。将读取电压以及所述阀值电压进行比对来判断所述至少一待检验存储单元所属的数据值。当确认所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值后,依据所述数据值来设定预设电压。将所述预设电压与所述至少一待检验存储单元的所述阀值电压进行比对而获得所述至少一待检验存储单元的偏移数据值。以及,判断所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值以及所述偏移数据值是否相同,从而判定所述至少一待检验存储单元的完整性是否有缺陷。

技术领域

本发明涉及一种存储器的检验技术,尤其涉及一种存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及电子装置。

背景技术

在不供电期间中仍可长时间储存数据的非易失性存储器(如,快取存储器)是诸多电子装置中的必要组件之一。非易失性存储器的可靠度问题与其自身的数据保留(dataretention)生命期限有关,换句话说,非易失性存储器可能因为诸多原因或潜在理由而导致缩减自身可保留数据的时间,或是在存取数据时受到伤害,因而发生非易失性存储器对数据存取的劣化。这些潜在理由例如是,进行数据循环(如,程序化/抹除)操作之后的压力依赖漏流(Stress Induced Leakage Current(SILC))、程序化/抹除操作中的扰乱问题、装置中的游离离子、出厂前并未发现的存储器物理缺陷…等。

在一般性消费型电子装置来说,存储器中的数据出错仅导致部分数据错误或功能缺失,并可通过许多方式进行补救。然而,若以自驾车或自动驾驶领域来说,部分数据的错误或系统延迟皆有可能导致系统当机,从而直接地关乎使用者的生命。为避免上述情况发生,在ISO 26262协定所规定的《道路车辆功能安全》国际标准中规定了汽车领域所使用的电子设备需要通过危害分析与风险评估(Hazard AnalysisRisk Assessment,HARA),以使产品的功能安全符合汽车安全完整性等级(ASIL)。因此,如何让电子产品能够诊断非易失性存储器的数据保留生命期限即将抵达,并在发现上述情况时能立刻处置,便是可作为技术研议的方向之一。

发明内容

本发明提供一种存储器完整性的检验方法、非易失性存储器以及使用此非易失性存储器的电子装置,可自行判断非易失性存储器中的待检测存储单元是否完好或是已开始出现劣化可能有损坏风险的情况下,从而让非易失性存储器以及电子装置的功能安全能够符合国际标准规定。

本发明的存储器完整性的检验方法包括下列步骤。获得非易失性存储器中至少一待检验存储单元的阀值电压。将读取电压以及所述阀值电压进行比对来判断所述至少一待检验存储单元所属的数据值。当确认所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值后,依据所述数据值来设定预设电压。将所述预设电压与所述至少一待检验存储单元的所述阀值电压进行比对而获得所述至少一待检验存储单元的偏移数据值。以及,判断所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值以及所述偏移数据值是否相同,从而判定所述至少一待检验存储单元的完整性是否有缺陷。

本发明的非易失性存储器包括存储器阵列以及控制电路。存储器阵列包括多个存储单元,且控制电路耦接所述存储器阵列。控制电路进行存储器的数据完整性检验以获得所述存储单元中的至少一待检验存储单元的阀值电压,将读取电压以及所述阀值电压进行比对来判断所述至少一待检验存储单元所属的数据值。当确认所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值后,控制电路依据所述数据值来设定预设电压,将所述预设电压与所述至少一待检验存储单元的所述阀值电压进行比对而获得所述至少一待检验存储单元的偏移数据值,判断所述至少一待检验存储单元所属的所述数据值以及所述偏移数据值是否相同,从而判定所述至少一待检验存储单元的完整性是否有缺陷。

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