[发明专利]评价LED器件工作寿命的方法和装置

说明书

本发明揭示了一种评价LED器件工作寿命的方法和装置，其中该方法包括：利用X射线拍摄LED器件中固晶层的焊料分布图像，固晶层的焊料包括Au/Sn焊料和银浆焊料；在焊料分布图像中识别位于Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞；根据Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命。由于固晶层是LED器件中芯片与引线框架的主要导热路径，其热传导性能会直接影响LED器件的工作寿命，而固晶层中空洞的种类和数量又决定了固晶层的热传导性能，利用X射线拍摄LED器件中固晶层的焊料分布图像，并识别其中Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞，可以据此对LED工作寿命作出评价。

技术领域

本发明属于LED发光技术领域，具体涉及一种评价LED器件工作寿命的方法和装置。

背景技术

传统白炽灯耗能高、寿命短，在全球资源紧缺的今天，已渐渐被各国政府禁止生产，随之替代产品是电子节能灯，电子节能灯虽然提高了节能效果，但由于使用了诸多污染环境的重金属元素，又有悖于环境保护的大趋势。随着LED技术的高速发展LED照明逐渐成为新型绿色照明的不二之选。LED在发光原理、节能、环保的层面上都远远优于传统照明产品。

然而，现有技术中缺少一种可以有效评价LED器件工作寿命的方法，导致LED器件出厂产品的瑕疵率高，急需一种评价LED器件工作寿命的方法和装置，可以在出厂前对LED器件进行质检，以剔除不合格器件。

发明内容

本申请一实施例提供一种评价LED器件工作寿命的方法，其可以有效地预估出LED器件的工作寿命，以便于剔除不合格器件，该方法包括：

利用X射线拍摄LED器件中固晶层的焊料分布图像，所述固晶层的焊料包括Au/Sn焊料和银浆焊料；

在所述焊料分布图像中识别位于所述Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞；

根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命。

一实施例中，根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命，具体包括：

识别所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量；

以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值；

以所述银浆焊料中穿透空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值；

根据LED器件的标准工作寿命值、第一工作寿命影响权重值以及第二工作寿命影响权重值，评价LED器件的工作寿命。

一实施例中，识别所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量，具体包括：

获取所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的面积，并分别将其与标准空洞面积比对，以获得所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量。

一实施例中，以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量乘以第一空洞加权系数，得到第一工作寿命影响权重值；以及，

以所述银浆焊料中穿透空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述银浆焊料中穿透空洞的数量乘以第二空洞加权系数，得到第二工作寿命影响权重值；其中，

所述第一空洞加权系数小于第二空洞加权系数。

一实施例中，根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命，具体包括：

识别所述Au/Sn焊料中的穿透空洞的数量；

识别所述银浆焊料中的顶层空洞、底层空洞、中心空洞以及穿透空洞的数量；