[发明专利]评价LED器件工作寿命的方法和装置

权利要求书

1.一种评价LED器件工作寿命的方法，其特征在于，该方法包括：

利用X射线拍摄LED器件中固晶层的焊料分布图像，所述固晶层的焊料包括Au/Sn焊料和银浆焊料；

在所述焊料分布图像中识别位于所述Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞；

根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命，具体包括：

识别所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量；

以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值；

以所述银浆焊料中穿透空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值；

根据LED器件的标准工作寿命值、第一工作寿命影响权重值以及第二工作寿命影响权重值，评价LED器件的工作寿命。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，识别所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量，具体包括：

获取所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的面积，并分别将其与标准空洞面积比对，以获得所述Au/Sn焊料和银浆焊料中穿透空洞的数量。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量乘以第一空洞加权系数，得到第一工作寿命影响权重值；以及，

以所述银浆焊料中穿透空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述银浆焊料中穿透空洞的数量乘以第二空洞加权系数，得到第二工作寿命影响权重值；其中，

所述第一空洞加权系数小于第二空洞加权系数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命，具体包括：

识别所述Au/Sn焊料中的穿透空洞的数量；

识别所述银浆焊料中的顶层空洞、底层空洞、中心空洞以及穿透空洞的数量；

以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值；

以所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值；

根据LED器件的标准工作寿命值、第一工作寿命影响权重值以及第二工作寿命影响权重值，评价LED器件的工作寿命。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，识别所述Au/Sn焊料中的穿透空洞的数量，具体包括：

获取所述Au/Sn焊料中穿透空洞的面积，并将其与标准空洞面积比对，以获得所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量；以及，

识别所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的数量，具体包括：

获取所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的面积，并分别将其与标准空洞面积比对，以获得所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的数量。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，以所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量确定第一工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述Au/Sn焊料中穿透空洞的数量乘以第一空洞加权系数，得到第一工作寿命影响权重值；以及，

以所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的数量确定第二工作寿命影响权重值，具体包括：

将所述银浆焊料中穿透空洞、顶层空洞、底层空洞以及中心空洞的数量分别乘以第二空洞加权系数、第三空洞加权系数、第四空洞加权系数以及第五空洞加权系数，并求和，得到第二工作寿命影响权重值；其中，

所述第一空洞加权系数＜第二空洞加权系数＜第三空洞加权系数＜第四空洞加权系数＜第五空洞加权系数。

8.一种评价LED器件工作寿命的装置，其特征在于，包括：

X射线拍摄单元，用于拍摄LED器件中固晶层的焊料分布图像，所述固晶层的焊料包括Au/Sn焊料和银浆焊料；

识别单元，用于在所述焊料分布图像中识别位于所述Au/Sn焊料和银浆焊料中的空洞；

工作寿命计算单元，用于根据所述Au/Sn焊料和银浆焊料中空洞的种类和数量评价LED器件的工作寿命。