[发明专利]裂缝的确定方法和装置有效

专利信息
申请号: 201711362899.1 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108181665B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 李宁;冯周;武宏亮;冯庆付;王克文;刘鹏 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉;徐焕
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 裂缝 电成像测井图像 裂缝图像 形态学处理 方法和装置 测井资料 目标区域 电成像 图像 干扰信号 获取目标 技术效果 裂缝方向 微裂缝 申请
【权利要求书】:

1.一种裂缝的确定方法,其特征在于,包括:

获取目标区域的电成像测井资料;

根据所述电成像测井资料,确定目标区域的电成像测井图像;

在垂直方向上对所述电成像测井图像进行形态学处理,得到第一角度裂缝图像;在水平方向上对所述电成像测井图像进行形态学处理,得到第二角度裂缝图像;

根据所述第一角度裂缝图像、所述第二角度裂缝图像,确定目标区域中的裂缝;

其中,根据所述第一角度裂缝图像、所述第二角度裂缝图像,确定目标区域中的裂缝,包括:

分别剔除所述第一角度裂缝图像、所述第二角度裂缝图像中的非目标区域;

根据剔除处理后的第一角度裂缝图像、剔除处理后的第二角度裂缝图像,建立裂缝轨迹特征图像;

根据所述裂缝轨迹特征图像,确定所述目标区域中的裂缝;

其中,分别剔除所述第一角度裂缝图像、所述第二角度裂缝图像中的非目标区域,包括:

对比所述第一角度裂缝图像和所述第二角度裂缝图像,确定所述非目标区域,其中,所述非目标区域包括溶孔和/或泥粒;

根据所述非目标区域,确定非目标区域的形态特征参数;

利用所述非目标区域的形态特征参数,分别剔除所述第一角度裂缝图像、第二角度裂缝图像中的所述非目标区域;

其中,非目标区域的形态特征参数包括以下至少之一:非目标区域的灰度特征参数、非目标区域的面积特征参数、非目标区域的圆度特征参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述电成像测井资料,确定目标区域的电成像测井图像,包括:

对所述电成像测井资料进行插值修复;

利用插值修复后的电成像测井资料确定所述电成像测井图像。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在垂直方向上对所述电成像测井图像进行形态学处理,得到第一角度裂缝图像,包括:

利用第一垂直线状结构元素对所述电成像测井图像进行形态学闭处理,得到第一图像;

利用第二垂直线状结构元素对所述第一图像进行形态学开处理,得到第二图像;

将所述电成像测井图像与所述第二图像作差,得到所述第一角度裂缝图像。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一垂直线状结构元素的垂直长度为6个像素点,水平长度为1个像素点;所述第二垂直线状结构元素的垂直长度为18个像素点,水平长度为1个像素点。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在水平方向上对所述电成像测井图像进行形态学处理,得到第二角度裂缝图像,包括:

利用第一水平线状结构元素对所述电成像测井图像进行形态学闭处理,得到第三图像;

利用第二水平线状结构元素对所述第三图像进行形态学开处理,得到第四图像;

将所述电成像测井图像与所述第四图像作差,得到所述第二角度裂缝图像。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一水平线状结构元素的水平长度为6个像素点,垂直长度为1个像素点;所述第二水平线状结构元素的水平长度为18个像素点,垂直长度为1个像素点。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述裂缝轨迹特征图像,确定所述目标区域中的裂缝,包括:

分别对所述裂缝轨迹特征图像中的深度窗进行特征信息统计,以确定裂缝的孔隙度、裂缝的长度和裂缝的密度;

从所述裂缝轨迹特征图像中提取裂缝轨迹;

对所述裂缝轨迹进行正弦曲线拟合,得到裂缝的倾角和裂缝的走向参数;

根据所述裂缝的孔隙度、所述裂缝的长度、所述裂缝的密度、所述裂缝的倾角和所述裂缝的走向参数,确定所述目标区域中的裂缝。

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