[发明专利]微调装置

说明书

本发明涉及一种微调装置，用于三维扫描设备相机上的三维调节装置，所述微调装置所述微调机构包括旋转单元及调整单元，所述旋转单元与所述调整单元信号连接；其中，所述旋转单元包括支架、与所述支架连接的连接部、动力装置及连接杆，所述支架可相对于所述连接部的轴心方向转动，所述动力装置设置有输出轴，所述连接杆的一端与所述输出轴连接，另一端与所述连接部连接。本发明结构简单、操作方便，可实现全方位转动。

技术领域

本发明涉及一种微调装置。

背景技术

随着现代工业制造水平的发展，产品零件大量采用不规则复杂曲面，其设计、生产、检测、试验等环节需要进行大量的三维曲面实体数字化和三维测量，迫切需要快速、高效、准确、移动式的三维测量技术和反求逆向技术。

产品的数据采集方法按照测量探头或传感器是否和实物接触，分为接触式和非接触式两类。接触式测量设备中被广泛应用的是三坐标测量机。它具有测量精度高、适应性强的优点，缺点是采集数据点过少，测量效率低，应用环境苛求，因探头接触造成磨损而常常需要校正。非接触式测量按类可分为激光三角法、结构光法、工业CT法、核磁共振法。本采集仪即属结构光法仪器。

目前，国内外三维形貌测量系统主要有两类：一是采用简单的单幅光栅相移技术，以加拿大Inspeck公司为代表的单相机测量技术，主要用于人体测量和人像雕刻使用，其精度无法满足工业的测量精度；二是采用格雷码加相移的三维测量技术，用多幅格雷码光栅对测量区域分级标识，再用单幅光栅相移测量。格雷码加相移的三维测量技术的优点为算法实现简单，易于实现产品化，但是缺点非常明显：一是格雷码只是用于对测量幅面的分级，无法提高测量精度；二是格雷码的使用造成测量系统对测量工件的表面明暗比较敏感，一般要喷显影剂才能测量，无法测量较暗的工件，无法测量表面剧烈变化的工件；三是单次测量幅面较小，一般小于400mm。

三维形貌测量仪是一种高速高精度的非接触式三维扫描测量设备，采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小(24mm到128mm)、测量精度、测量速度等性能都达到了国际最先进水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高、抗干扰能力强、受被测工件表面阴暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件。

现有三维形貌测量仪的设计是只扫描单一的幅面，之前调试好相机角度后直接固定在底板上，而在实际测量中，由于人为碰触或运输颠簸的原因，时间久了会导致相机的夹角发生变化，再矫正时极为不易。故有必要对现有三维形貌测量仪的固定结构进行进一步地技术革新。

发明内容

本发明的目的在于提供一种结构简单、操作方便、可实现全方位旋转的微调装置。

为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：一种微调装置，用于三维扫描设备相机上的三维调节装置，所述微调装置所述微调机构包括旋转单元及调整单元，所述旋转单元与所述调整单元信号连接；其中，所述旋转单元包括支架、与所述支架连接的连接部、动力装置及连接杆，所述支架可相对于所述连接部的轴心方向转动，所述动力装置设置有输出轴，所述连接杆的一端与所述输出轴连接，另一端与所述连接部连接。

进一步地，所述连接部包括曲柄及第一轴承、第二轴承，所述曲柄通过所述第一轴承与所述支架连接，通过所述第二轴承与所述连接杆连接。

进一步地，所述调整单元包括位置传感器、螺杆、十字通孔及控制器，所述螺杆的底部设置在所述十字通孔的十字交叉点位置，所述位置传感器设置在所述十字通孔内，所述控制器与所述位置传感器及螺杆信号连接；其中，所述位置传感器感知所述螺杆相较于十字交叉点位置移动的距离并发送位置改变距离信号给控制器。

本发明的有益效果在于：通过旋转单元及调整单元，可将设置在微调机构上的物体全方位旋转。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。