[发明专利]基于串并联遗传算法的多目标测试优选方法有效
申请号: | 201711331649.1 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108090566B | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 杨成林;陈芳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06N3/12 | 分类号: | G06N3/12 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平;陈靓靓 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 串并联 遗传 算法 多目标 测试 优选 方法 | ||
1.一种基于串并联遗传算法的多目标测试优选方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:根据需要确定若干个电子系统的测试优选的优化目标和约束条件,优化目标包括测试经费最小化、测试时间开销最小化、故障隔离度最大化、故障检测率最大化中的两种或以上,约束条件参数包括故障隔离度、故障检测率、虚警率中的一种或以上,记优化目标的数量为N,并设置测试方案的优化目标函数fn(x),n=1,2,…,N,优化目标函数值越小,测试方案越优,记约束条件为A≥A*,A表示约束条件参数,A*表示参数阈值;
S2:执行K次遗传算法,得到K个最优解集,遗传算法的具体步骤包括:
S2.1:初始化迭代次数t=1,精英解集合随机生成Y个个体xi,i=1,2,…,Y,每个个体为一个长度为M的二进制码,M表示电子系统的测试数量;每个个体表示一个测试方案,当二进制码中第m个数据为0时,表示个体所对应测试方案中未选中第m个测试,当二进制码中第m个数据为1时,表示个体所对应测试方案中选中第m个测试,m=1,2,…,M;
S2.2:从当前种群中筛选中符合约束条件的个体,加入精英解集合E;
S2.3:根据N个优化目标函数fn(x),计算当前精英解集合E每个个体xd对应的N个优化目标函数值fn(xd),d=1,2,…,|E|,|E|表示当前精英解集合E中个体数量,两两比较个体的优化目标函数值,获取每个个体被支配的次数zd;搜索当前精英解集合E中被支配次数最多和最少的个体,其被支配次数分别记为zmax和zmin;
S2.4:计算个体xi的适应度值Fi:
其中,Ai表示个体xi的约束条件参数值;
S2.5:如果t<T,进入步骤S2.6,否则进入步骤S2.8:
S2.6:对当前种群中进行选择、交叉、变异操作,生成下一代种群;
S2.7:令t=t+1,返回步骤S2.2;
S2.8:计算当前精英解集合E中每个个体对应的N个优化目标函数值,搜索当前精英解集合E中的非支配个体,即构成本次遗传算法的最优解集;
S3:合并步骤S2所获得的K个最优解集,得到集合U,如果集合U中的个体数量|U|等于Y,则将集合U作为种群V;如果|U|小于Y,则随机生成产生Y-|U|个体,与集合U一起构成种群V;如果|U|大于Y,则计算集合U中每个个体对应的N个优化目标函数值,两两比较个体的优化目标函数值,获取每个个体被支配的次数,将个体按被支配次数升序排列,取前Y个个体构成种群V;将种群V作为初始种群,执行一次步骤S2中的遗传算法,得到最优解集,其每个个体即为一个测试优选方案。
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