[发明专利]透明材料缺陷检测系统及方法

权利要求书

1.一种透明材料缺陷检测系统，其特征在于，包括：

至少一个检测单元，其包括成像装置和组合光源，所述成像装置用于对所述透明材料进行成像扫描；所述组合光源，用于给所述透明材料进行缺陷检测时提供多种照明模式；

至少一个面镜成像组件，用于与所述至少一个检测单元配合，辅助至少一个成像装置对所述透明材料进行联合成像模式下的成像扫描；

传送装置，用于使得所述透明材料与所述检测单元间产生相对移动；

控制器，用于控制所述组合光源各种照明模式的分时切换及所述至少一个成像装置在相应照明模式下的图像采集；

处理器，与所述控制器及所述至少一个成像装置通信连接，用于生成控制指令给所述控制器并接收所述至少一个成像装置生成的图像数据。

2.根据权利要求1所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述组合光源包括：反射亮光源、反射暗光源、透射亮光源、透射暗光源及远射暗光源中的一种或者多种。

3.根据权利要求1所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述成像装置包括用于收集光信号并将光信号转换为电信号的成像组件，所述成像组件为CCD线阵成像组件或者CMOS线阵成像组件或者其他线阵成像组件；

所述面镜成像组件为低透光率镀膜反光镜。

4.根据权利要求3所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述成像装置的数量为多个，多个所述成像装置设置于所述透明材料的上方和/或下方。

5.根据权利要求4所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述面镜成像组件设有用于控制其角度的角度切换机构，所述角度切换机构用于在所述控制器控制下切换所述面镜成像组件工作以进入联合成像模块式或者所述面镜成像组件不工作以进入所述成像装置独立工作对应的独立成像模式。

6.根据权利要求1所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述透明材料为平板透明材料或者表面粗糙、凹凸不平的异形透明材料。

7.根据权利要求1所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述至少一个成像装置在所述控制器的控制下对所述透明材料在不同照明模式照明时进行连续扫描，得到关于所述透明材料的P个图像采集通道；

P=(Σy=1xCxy+Σy=1xΣz=1kCxy·Ckz)·N]]>

其中，P为图像采集通道数量，x为成像装置数量，k为面镜成像组件数量，N为照明模式数量。

8.根据权利要求1所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述处理器还包括：

缺陷判断模块，用于根据接收的多个图像采集通道对应的各图像数据，并判定出所述透明材料表面和/或内部的缺陷。

9.根据权利要求8所述的透明材料缺陷检测系统，其特征在于，

所述处理器还包括：

三维定位模块，用于获取所述缺陷对应的三维相对位置信息和所述透明材料对应的三维建模图形，构建出所述缺陷在所述透明材料中的三维分布图。