[发明专利]温度补偿校验系统和方法

说明书

本发明适用于温度补偿试验技术领域，提供了一种温度补偿校验系统和方法。所述系统包括：调压模块、调温模块、控制模块和显示模块，调温模块包括调温箱、制冷器、加热器、温度传感器和温控器，制冷器和加热器连接温控器，温度传感器连接控制模块，调压模块包括压力传感器、调压气囊、调压杆、被测密度继电器接口、第一三通阀和第一阀门，调压气囊上设置有调压杆，调压气囊连接第一阀门一端，第一阀门另一端、被测密度继电器接口和压力传感器通过第一三通阀连接，被测密度继电器接口连接被测密度继电器，压力传感器连接控制模块，控制模块连接显示模块。采用上述方案后，提高了测验准确性，且在任何检修现场都可以使用，测验方便。

技术领域

本发明属于温度补偿试验技术领域，尤其涉及一种温度补偿校验系统和方法。

背景技术

随着经济的不断发展，大量的开关应用到工业生产中，满足人们的多样化需求。以SF6开关为例，SF6开关是电力系统广泛使用的高压电器，SF6开关的可靠运行已成为供电部门最关心的问题之一，SF6气体密度继电器是用来监测运行中SF6开关本体中SF6气体密度变化的重要元件，其性能的好坏直接影响到SF6开关的运行安全，现场运行的SF6气体密度继电器会出现温度补偿性能变差，当环境温度变化时容易导致SF6气体密度继电器误动作。

当环境温度高于或低于20℃时，由于开关本体和SF6密度继电器的吸热比不同，SF6密度继电器不能准确显示开关本体本身的实际压力，从而造成现场SF6密度继电器出现较大压力变化的现象，但是检修人员无法判断是由于SF6密度继电器温度补偿不合格的原因还是正常现象，经常会出现误判、错判的情况，影响SF6开关的正常使用。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种温度补偿校验系统和方法，以解决现有技术中检修人员无法判断是由于SF6密度继电器温度补偿不合格的原因还是正常现象，经常会出现误判、错判的情况，影响SF6开关正常使用的问题。

本发明实施例的第一方面，提供了一种温度补偿校验系统，包括：调压模块、调温模块和控制模块，所述调温模块包括调温箱、制冷器、加热器、温度传感器和温控器，所述制冷器、所述加热器和所述温度传感器设置在所述调温箱内，所述制冷器和所述加热器连接所述温控器，所述温度传感器连接所述控制模块，所述调压模块包括压力传感器、调压气囊、调压杆、被测密度继电器接口、第一三通阀和第一阀门，所述调压气囊上设置有所述调压杆，所述调压气囊连接所述第一阀门一端，所述第一阀门另一端、所述被测密度继电器接口和所述压力传感器通过所述第一三通阀连接，所述被测密度继电器接口连接设置在所述调温箱内的被测密度继电器，所述压力传感器连接所述控制模块。

作为进一步的技术方案，所述系统还包括储气气囊、第二阀门和第二三通阀，所述储气气囊连接所述第二阀门的一端，所述第二阀门的另一端、所述调压气囊和所述第一阀门一端通过所述第二三通阀连接。

作为进一步的技术方案，所述系统还包括按键，所述按键连接所述温控器，所述按键包括升温键、降温键和复归键，

所述温控器根据所述升温键开启时发送的第一指令调节所述加热器；

所述温控器根据所述降温键开启时发送的第二指令调节所述制冷器；

所述温控器根据所述复归键开启时发送的第三指令分别复归所述加热器和所述制冷器为初始温度。

作为进一步的技术方案，所述系统还包括放大模块，所述温度传感器和所述压力传感器通过所述放大模块连接所述控制模块。

作为进一步的技术方案，所述控制模块为ARM单片机。

作为进一步的技术方案，所述调压气囊中的气体为SF6气体。

作为进一步的技术方案，所述系统还包括电源模块，所述电源模块分别连接所述温控器、所述温度传感器、所述压力传感器、所述控制模块和所述显示模块。