[发明专利]一种针对光场阵列相机的基于重投影的重聚焦方法及系统在审

专利信息
申请号: 201711142290.3 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN107977993A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 杨俊刚;肖超;王应谦;李骏;安玮 申请(专利权)人: 杨俊刚;肖超;王应谦
主分类号: G06T7/557 分类号: G06T7/557;G06T7/80
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 代理人: 魏国先,王娟
地址: 410000 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 阵列 相机 基于 投影 聚焦 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及图像处理,计算成像领域,特别是一种针对光场阵列相机的基于重投影的重聚焦方法及系统。

背景技术

光作为一种分布在空间中的电磁波,具有多个维度的信息。然而,传统光学成像只能捕获到光辐射在二维平面上的强度,而丢失了其他维度的信息。光场成像利用现代信息处理的手段,可以突破传统成像的某些局限,降低成像对器件和加工的要求。阵列相机作为采集光场的一种方式,它通过一次曝光就可以获得完整的光场数据。通过不同的空间排布,能够获得不同的系统特性,其中大尺度空间排布可用于合成孔径实现“透视”监测,或通过拼接实现大视角全景成像,而紧密排列型可用于获取高性能的动态图像。

在阵列相机获取光场图像之后,对光场图像进行处理,可以实现合成孔径成像,使合成的图像聚焦到任意平面。现有的方法主要是Vaish等人提出的方法,他们采用单应性矩阵先将光场获取的图像对准到参考平面,然后对处理后的图像进行移位相加求平均可以得到重聚焦图像。这种方法使光场图像聚焦到某一平面时需要进行两次插值,而插值会对高频带来损失,进而对成像质量造成损失。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,针对现有技术不足,提供一种针对光场阵列相机的基于重投影的重聚焦方法及系统,使用一次插值就可使光场阵列相机重聚焦到任意平面。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:一种针对光场阵列相机的基于重投影的重聚焦方法,包括以下步骤:

1)对相机阵列进行校正;

2)指定相机阵列中的一个相机为参考相机,通过反投影求解所述参考相机的像素坐标对应的世界坐标网格点;

3)将所述世界坐标网格点通过其他相机重投影为像素坐标,根据所述像素坐标,将对应的图像进行插值,得到对准到指定平面的图像;

4)将插值得到的图像相加求平均值即得到聚焦于指定平面的图像。

步骤1)中,校正的具体实现过程为:首先用相机阵列对棋盘格进行成像,每个相机拍摄十幅图像;拍照完成后,将每个相机拍摄的图像输入MATLAB中进行校正,得到每个相机的参数,选取每个相机对应于同一棋盘格位置的参数为相机阵列的参数。

步骤2)中,通过求解下式得到世界坐标网格点:

其中,s0为参考相机对应的尺度因子,K0,R0,T0为参考相机的参数,(u0,v0)为参考相机的像素坐标,(xw,yw,zw)为参考相机像素对应的世界坐标系下的点;(a,b,c)为指定平面的法向量,(x0,y0,z0)为指定平面上的一个点。

步骤3)中,对第i个相机求解像素坐标的过程如下式所示:

其中si为第i个相机对应的尺度因子,Ki,Ri,Ti为第i个相机的参数,(ui,vi)为第i个相机的像素坐标。

步骤4)中,所述聚焦于指定平面的图像Isap表达式为:

其中,N为相机数目,Ii'为插值后得到的图像。

相应地,本发明还提供了一种针对光场阵列相机的基于重投影的重聚焦系统,其包括:

校正模块,用于对相机阵列进行校正;

求解模块,用于指定相机阵列中的一个相机为参考相机,通过反投影求解所述参考相机的像素坐标对应的世界坐标网格点;

插值模块,用于将所述世界坐标网格点通过其他相机重投影为像素坐标,根据所述像素坐标,将对应的图像进行插值,得到对准到指定平面的图像;

均值模块,用于将插值得到的图像相加求平均值即得到聚焦于指定平面的图像。

与现有技术相比,本发明所具有的有益效果为:采用本发明的方法,可以使阵列相机采集的光场图像重聚焦于任意平面,在重聚焦过程中只使用一次插值,对图像质量的损失很小。本发明方法简单灵活,只需要改变聚焦平面的方程就可以得到相应的重聚焦图像,操作方便,易于编程实现。随着阵列相机的不断推广,本发明的方法具有较大的实用价值。

附图说明

图1为相机成像模型。

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