[发明专利]数据存储装置及其操作方法有效
申请号: | 201711138877.7 | 申请日: | 2017-11-16 |
公开(公告)号: | CN108417232B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 朴振 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C5/14 | 分类号: | G11C5/14;G11C29/42;G11C29/50 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王朋飞;张晶 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 存储 装置 及其 操作方法 | ||
1.一种数据存储装置,其包括:
非易失性存储器装置;
电源管理单元,其适于输出第一低电压检测信号和第二低电压检测信号,每个低电压检测信号表示源电压的电压电平等于或低于预定参考电压电平;以及
处理器,其适于计算所述第一低电压检测信号和所述第一低电压检测信号之前的所述第二低电压检测信号之间的检测间隔,将计算出的检测间隔与预定阈值检测间隔进行比较,并基于比较结果确定管理由于所述低电压生成而导致的未完成请求或未处理请求的恢复操作的执行的主体。
2.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中从主机装置接收所述源电压。
3.根据权利要求2所述的数据存储装置,其中所述处理器从所述电源管理单元接收所述低电压检测信号,将相应的检测时间匹配到所述低电压检测信号,并且将所述低电压检测信号和所述相应的检测时间存储在包括在所述非易失性存储器装置中的低电压检测表中。
4.根据权利要求3所述的数据存储装置,其中所述处理器通过参考所述低电压检测表,基于对应于所述第一低电压检测信号的第一检测时间和对应于所述第二低电压检测信号的第二检测时间来计算所述检测间隔。
5.根据权利要求2所述的数据存储装置,其进一步包括:
存储器控制单元,其适于生成用于控制所述非易失性存储器装置的操作的控制信号,并将所生成的控制信号提供给所述非易失性存储器装置。
6.根据权利要求5所述的数据存储装置,其中当所计算出的检测间隔比阈值检测间隔短时,所述处理器重置所述存储器控制单元,并且当所述存储器控制单元的重置完成时,所述处理器控制所述存储器控制单元来处理由于所述低电压生成而导致的未完成请求或未处理请求的恢复操作。
7.根据权利要求6所述的数据存储装置,其中当从所述电源管理单元接收到正常电压检测信号时,所述处理器重置所述存储器控制单元。
8.根据权利要求7所述的数据存储装置,其中所述正常电压检测信号表示所述源电压的电压电平大于参考电压电平。
9.根据权利要求5所述的数据存储装置,其中当所计算出的检测间隔比阈值检测间隔长时,所述处理器重置所述数据存储装置,确定是否从所述主机装置接收到请求,并且控制所述存储器控制单元来处理从所述主机装置接收到的请求。
10.根据权利要求9所述的数据存储装置,其中从所述主机装置接收到的请求包括由于所述低电压生成而导致的未完成请求或未处理请求。
11.一种数据存储装置的操作方法,其包括:
确定是否接收到低电压检测信号,所述低电压检测信号包括第一低电压检测信号和第二低电压检测信号,每个所述低电压检测信号表示源电压的电压电平等于或低于预定参考电压电平;
计算所述第一低电压检测信号和所述第一低电压检测信号之前的所述第二低电压检测信号之间的检测间隔;以及
基于计算出的检测间隔和预定阈值检测间隔之间的比较结果来确定管理由于所述低电压生成而导致的未完成请求或未处理请求的恢复操作的执行的主体。
12.根据权利要求11所述的方法,其中从主机装置接收所述源电压。
13.根据权利要求12所述的方法,其进一步包括:在所述检测间隔的计算之前,
将所接收到的低电压检测信号和与其匹配的相应检测时间存储在包括在非易失性存储器装置中的低电压检测表中。
14.根据权利要求13所述的方法,其中通过参考所述低电压检测表,计算对应于所述第一低电压检测信号的第一检测时间与对应于所述第二低电压检测信号的第二检测时间之间的差值来执行所述检测间隔的计算。
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