[发明专利]基板检查设备及基板检查方法在审
申请号: | 201711116221.5 | 申请日: | 2017-11-13 |
公开(公告)号: | CN107907549A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 朱秋虹;裴龙 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/896 | 分类号: | G01N21/896 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 | 代理人: | 孙伟峰,阳志全 |
地址: | 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 设备 方法 | ||
1.一种基板检查设备,其特征在于,包括:
支架(10),包括托盘(11)和支撑件(12),所述托盘(11)用于承载待检查的基板(P),在竖直方向上可旋转地支撑在所述支撑件(12)上;
光源(20),设于所述托盘(11)斜上方,用于朝所述托盘(11)上的所述基板(P)表面照射光线;
镜头组(30),设于所述托盘(11)上方,并朝向所述托盘(11),用于在所述托盘(11)转动的过程中拍摄所述托盘(11)上的所述基板(P)的图像;
观察台(40),在水平方向上与所述托盘(11)间隔设置,用以承载操作者观察所述托盘(11)上的所述基板(P)的表面;
监视器(50),设于所述观察台(40)旁,用于显示所述镜头组(30)拍摄的所述基板(P)的图像。
2.根据权利要求1所述的基板检查设备,其特征在于,所述支撑件(12)还包括第一支撑件(121)和第二支撑件(122),所述托盘(11)在竖直方向上可旋转地支撑在第一支撑件(121)上,所述第一支撑件(121)沿竖直方向上可移动地设于所述第二支撑件(122)上。
3.根据权利要求2所述的基板检查设备,其特征在于,所述第二支撑件(122)上设有液压缸(122a),所述液压缸(122a)的活塞杆(121a)固定在所述第一支撑件(121)上。
4.根据权利要求1所述的基板检查设备,其特征在于,所述支架(10)还包括底座(13),所述支撑件(12)沿水平方向可转动地设于所述底座(13)上。
5.根据权利要求1所述的基板检查设备,其特征在于,所述光源(20)的边缘设有红外线收发器(200),用于朝所述托盘(11)发射红外线以校准所述光源(20)的朝向。
6.根据权利要求1-5任一所述的基板检查设备,其特征在于,所述支架(10)还包括两条平行设置的滑轨(14),所述底座(13)沿所述滑轨(14)的延伸方向可滑动地设于所述滑轨(14)上。
7.根据权利要求6所述的基板检查设备,其特征在于,所述滑轨(14)内侧设有凹陷的滑槽,所述底座(13)的两端分别嵌设于所述滑槽内。
8.根据权利要求6所述的基板检查设备,其特征在于,所述镜头组(30)包括多个镜头(300),所述镜头(300)沿所述滑轨(14)的延伸方向成排设置。
9.一种基板检查方法,其特征在于,使用权利要求1-8任一所述的基板检查设备,包括:
利用光源(20)照射托盘(11)上的基板(P);
人眼观察基板(P)表面,以检查基板(P)的外观;
拍摄基板(P)的图像,操作者通过监视器(50)观察所拍摄的基板(P)的图像,以检查图片中有无暗影;
在竖直方向上转动托盘(11),再次拍摄基板(P)的图像,操作者再次通过监视器(50)观察所拍摄的基板(P)的图像,直至托盘(11)转动至基板(P)脱离拍摄视角。
10.根据权利要求9所述的基板检查方法,其特征在于,还包括转动支撑件(12),并拍摄基板(P)的图像,操作者通过监视器(50)观察所拍摄的基板(P)的图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司,未经武汉华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711116221.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种生丝疵点检测设备
- 下一篇:玻璃基板切片固定装置和切片观察设备