[发明专利]一种检测磁场质量的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711105676.7 申请日: 2017-11-10
公开(公告)号: CN109782194B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 李隽颖 申请(专利权)人: 阿里巴巴(中国)有限公司
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;G01C21/20
代理公司: 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 代理人: 张丹
地址: 310052 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 磁场 质量 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种检测磁场质量的方法及装置,该方法包括:定期分别获得电子设备的第一欧拉角和第二欧拉角;获得第一欧拉角在水平方向上的第一分量,获得对应的第二欧拉角在水平方向上的第二分量;计算第一分量和对应的第二分量的差值,并计算设定时间内的多项所述差值的方差值;判断所述方差值是否大于预设门限值,若大于,确认所述电子设备所处的磁场不稳定。可见,本发明方案实现了对磁场质量的检测。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域,特别是涉及一种检测磁场质量的方法及装置。

背景技术

方向估计是步行者轨迹推算(Pedestrian Dead Reckoning,PDR)中非常重要的组成部分,现有技术方案融合陀螺仪、磁力计和加速计计算电子设备在空间中的姿态。

具体地,通过加速计和磁力计计算电子设备在空间中的第一姿态角,即第一欧拉角(Euler1),通过陀螺仪计算电子设备在空间中的第二姿态角,即第二欧拉角(Euler2),而后通过互补滤波的方式计算融合之后的第三欧拉角(Euler3),其中,计算融合之后的第三欧拉角所采用的公式为Euler 3=(1-a)*Euler1+a*Euler2,a为在[0,1]之间的互补权重参数,欧拉角包括偏航角(yaw)、俯仰角(pitch)和翻滚角(roll)。

在对现有技术进行研究的过程中,发明人发现,一方面,在计算Euler1时,通过加速计计算的电子设备的姿态一般较为准确,而由于受周围环境的影响,电子设备所在空间的磁场可能被干扰,这将导致磁力计测得的姿态不准确,此时,为了减小计算的Euler3的误差,需要增加参数a,以降低Euler1在互补滤波中的权重,然而,另一方面,由于陀螺仪自身的特点,通过陀螺仪计算的Euler2会有较大的积累误差,因此参数a不能无限增大(趋近于1),否则会导致Euler3角有较大的积累误差。

由上可见,如何合理分配互补权重a,取决于磁场是否具有较大的干扰,因此,亟需一种能够检测磁场质量的技术方案。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种检测磁场质量的方法及装置,以实现对磁场质量的检测,技术方案如下:

一种检测磁场质量的方法,包括:

定期分别获得电子设备的第一欧拉角和第二欧拉角;

获得第一欧拉角在水平方向上的第一分量,获得对应的第二欧拉角在水平方向上的第二分量;

计算第一分量和对应的第二分量的差值,并计算设定时间内的多项所述差值的方差值;

判断所述方差值是否大于预设门限值,若大于,确认所述电子设备所处的磁场不稳定。

优选地,所述获得第一欧拉角在水平方向上的第一分量,获得对应的第二欧拉角在水平方向上的第二分量,包括:

判断电子设备坐标系与地球坐标系是否重合,所述电子设备坐标系用于获得所述第一欧拉角和所述第二欧拉角,所述地球坐标系与所述重力方向平行;

若是,将第一欧拉角的第一偏航角作为水平方向上的第一分量,将第二欧拉角的第二偏航角作为水平方向上的第二分量。

优选地,所述计算第一分量和对应的第二分量的差值之前,还包括:

分别对设定时间内的第一偏航角和设定时间内的第二偏航角进行预设项数的滑动平均运算;

相应地,所述计算第一分量和对应的第二分量的差值为计算所述滑动平均运算之后的第一偏航角与对应的第二偏航角的差值。

优选地,还包括:

当所述电子坐标系与所述地球坐标系不重合时,分别获得第一欧拉角和第二欧拉角的偏航角差,俯仰角差和翻滚角差;

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