[发明专利]一种检测磁场质量的方法及装置有效
申请号: | 201711105676.7 | 申请日: | 2017-11-10 |
公开(公告)号: | CN109782194B | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 李隽颖 | 申请(专利权)人: | 阿里巴巴(中国)有限公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02;G01C21/20 |
代理公司: | 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 | 代理人: | 张丹 |
地址: | 310052 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 磁场 质量 方法 装置 | ||
1.一种检测磁场质量的方法,其特征在于,包括:
定期分别获得电子设备的第一欧拉角和第二欧拉角;
判断电子设备坐标系与地球坐标系是否重合;
当所述电子设备坐标系与所述地球坐标系重合时,将第一欧拉角的第一偏航角作为水平方向上的第一分量,将第二欧拉角的第二偏航角作为水平方向上的第二分量;
当所述电子设备坐标系与所述地球坐标系不重合时,分别获得第一欧拉角和第二欧拉角的偏航角差,俯仰角差和翻滚角差;分别将所述偏航角差,所述俯仰角差、所述翻滚角差分解到与重力方向垂直的平面上,得到偏航角差水平分量、俯仰角差水平分量及翻滚角差水平分量;根据所述偏航角差水平分量、俯仰角差水平分量及翻滚角差水平分量得到所述第一欧拉角水平方向上的第一分量和第二欧拉角水平方向上的第二分量;
计算第一分量和对应的第二分量的差值,并计算设定时间内的多项所述差值的方差值;
判断所述方差值是否大于预设门限值,若大于,确认所述电子设备所处的磁场不稳定。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备坐标系用于获得所述第一欧拉角和所述第二欧拉角,所述地球坐标系与重力方向平行。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述计算第一分量和对应的第二分量的差值之前,还包括:
分别对设定时间内的第一偏航角和设定时间内的第二偏航角进行预设项数的滑动平均运算;
相应地,所述计算第一分量和对应的第二分量的差值为计算所述滑动平均运算之后的第一偏航角与对应的第二偏航角的差值。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获得第一欧拉角和第二欧拉角的偏航角差,俯仰角差和翻滚角差之前,还包括:
分别对所述第一欧拉角和所述第二欧拉角进行预设项数的滑动平均运算。
5.一种检测磁场质量的装置,其特征在于,包括:
第一获得单元,用于定期分别获得电子设备的第一欧拉角和第二欧拉角;
第二获得单元,用于获得第一欧拉角在水平方向上的第一分量,获得对应的第二欧拉角在水平方向上的第二分量,其中包括:
第二判断单元,用于判断电子设备坐标系与地球坐标系是否重合;
第二确定单元,用于当所述电子设备坐标系与所述地球坐标系重合时,将第一欧拉角的第一偏航角作为水平方向上的第一分量,将第二欧拉角的第二偏航角作为水平方向上的第二分量;
第三获得单元,用于当所述第二判断单元确定所述电子设备坐标系与所述地球坐标系不重合时,分别获得第一欧拉角和第二欧拉角的偏航角差,俯仰角差和翻滚角差;
第二计算单元,用于分别将所述偏航角差,所述俯仰角差、所述翻滚角差分解到与重力方向垂直的平面上,得到偏航角差水平分量、俯仰角差水平分量及翻滚角差水平分量;
第三确定单元,用于根据所述偏航角差水平分量、俯仰角差水平分量及翻滚角差水平分量得到所述第一欧拉角水平方向上的第一分量和第二欧拉角水平方向上的第二分量;第一计算单元,用于计算第一分量和对应的第二分量的差值,并计算设定时间内的多项所述差值的方差值;
第一判断单元,用于判断所述方差值是否大于预设门限值;
第一确定单元,用于所述第一判断单元确定所述方差值大于预设门限值时,确认所述电子设备所处的磁场不稳定。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述第二获得单元,包括:所述电子设备坐标系用于获得所述第一欧拉角和所述第二欧拉角,所述地球坐标系与重力方向平行。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:
运算单元,用于计算第一分量和对应的第二分量的差值之前分别对设定时间内的第一偏航角和设定时间内的第二偏航角进行预设项数的滑动平均运算;
相应地,所述第一计算单元中的计算第一分量和对应的第二分量的差值为计算所述滑动平均运算之后的第一偏航角与对应的第二偏航角的差值。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:
运算单元,用于在获得第一欧拉角和第二欧拉角的偏航角差,俯仰角差和翻滚角差之前,分别对所述第一欧拉角和所述第二欧拉角进行预设项数的滑动平均运算。
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