[发明专利]一种识别衣物材质的光学方法及装置

权利要求书

1.一种识别衣物材质的光学方法，其特征在于，包括：

入射光照射待测衣物；

获取反射光接收点与待测衣物的实际距离值、入射光波长值和入射光调制频率值，并获取反射光深度畸变值；

获取根据所述实际距离值、所述入射光波长值和所述入射光调制频率值中的任意两个参数，改变除上述两个参数外的第三参数，获得对应的反射光深度畸变值，进而得到第三参数与所述反射光深度畸变值对应的特性曲线；在光学-衣物材质标准数据库中检索，先根据获取的所述任意两个参数进行检索，得到除上述两个参数外的第三参数与所述反射光深度畸变值对应的标准特性曲线集合，将所述第三参数与所述反射光深度畸变值的实际特性曲线在上述标准特性曲线集合中进行检索匹配，根据所述标准特性曲线集合中与所述实际特性曲线相似度最高的标准特性曲线，识别待测衣物的材质；

其中，所述获取反射光的深度畸变值，具体为：获取反射光深度值，即获取反射光接收点与待测衣物的测量距离值，所述实际距离值与所述测量距离值的差值，即为反射光深度畸变值。

2.根据权利要求1所述的光学方法，其特征在于，所述获取所述实际距离值、所述入射光波长值和所述入射光调制频率值中的任意两个参数，改变除上述两个参数外的第三参数，获得对应的反射光深度畸变值，进而得到第三参数与所述反射光深度畸变值对应的特性曲线，具体为：

在所述入射光波长值和所述入射光调制频率值为常量的情况下，若干实际距离值与若干随实际距离值的变化而变化的反射光深度畸变值构成待测衣物的“距离-深度畸变”特性曲线；

在所述入射光波长值和所述实际距离值为常量的情况下，若干入射光调制频率值与若干随入射光调制频率的变化而变化的反射光深度畸变值构成待测衣物的“调制频率-深度畸变”特性曲线；

在所述入射光调制频率值和所述实际距离值为常量的情况下，若干入射光波长值与若干随入射光波长值的变化而变化的反射光深度畸变值构成待测衣物的“波长-深度畸变”特性曲线。

3.根据权利要求2所述的光学方法，其特征在于，所述根据所述标准特性曲线集合中与所述实际特性曲线相关度最高的标准特性曲线，识别待测衣物的材质，具体为：

通过特征曲线比对，确定与所述实际特性曲线相关度最高的标准特性曲线；

获取所述相关度最高的标准特性曲线在所述光学-衣物材质标准数据库中所对应的衣物材质信息；根据所述衣物材质信息，确定待测衣物的材质。

4.根据权利要求1所述的光学方法，其特征在于，还包括，

获取待测衣物的颜色值；

在所述颜色值、所述入射光波长值、所述入射光调制频率值和所述实际距离值均为常量的情况下，根据所述反射光深度畸变值识别待测衣物的材质。

5.一种同时识别多种衣物材质的光学方法，包括权利要求1至4中任一项所述的识别衣物材质的光学方法，其特征在于，还包括：

入射光照射若干待测衣物；

同时获取若干反射光深度畸变值；

根据所述若干反射光深度畸变值识别若干待测衣物的材质。

6.一种识别衣物材质的装置，其特征在于，所述识别衣物材质的装置采用权利要求1-5中的任一项所述的识别衣物材质的光学方法对衣物材质进行识别。