[发明专利]测量方法以及测量装置

说明书

本发明提供一种即使作为测量对象的壁面有歪斜、凹凸，也能够准确地确定该壁面的测量方法。该测量方法包括：求出壁面上的第1～第4点的坐标的第1步骤；确定包含第1、第2以及第3点的第1面，包含第2、第3以及第4点的第2面，包含第3、第4以及第1点的第3面，以及包含第4、第1以及第2点的第4面的第2步骤；求出第1面与第4点的第4距离，第2面与第1点的第1距离，第3面与第2点的第2距离，以及第4面与第3点的第3距离的第3步骤；选取第1、第2、第3以及第4距离中的最大值作为评价值的第4步骤；在评价值小于预设的阈值的情况下，选取所述第1～第4面中的任一者作为确定所述壁面的确定面的第5步骤。

技术领域

本发明涉及一种测量方法以及测量装置，特别是准确地确定建筑物或结构体的壁面或者面部分的方法以及装置。

背景技术

目前，免棱镜式全站仪被用于各种测量。利用该全站仪，无需设置脚手架也能够简单且高精度地测量高处的观测点。

免棱镜式全站仪利用朝向观测点照射的激光的反射光。但是，例如，对于建筑物的拐角(角部)，不能获得来自该拐角的反射光，因此无法准确地得到拐角的坐标。因此，以往，在离拐角非常近的壁面上设置观测点，将该观测点的坐标看做拐角的坐标。但是，得到的观测点的坐标，不能准确地确定拐角的坐标。

另外，存在需要使用免棱镜式全站仪确定一个平坦的面的情况。例如，在将建筑物的壁面上产生的裂纹的分布与其三维坐标数据一起显示的情况下，需要用于确定壁面本身的数据。但是，真实的壁面不是完全平坦的面，具有伴随着经年劣化而产生的凹凸。因此，很难说观测壁面上的例如3点，并根据这3点的坐标数据确定的壁面(具体地是面方程式)准确地表示了真实的壁面。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2004-333211号公报

专利文献2：日本特开2010-85311号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

因此，本申请的发明，提供一种评价例如使用免棱镜式全站仪观测的面数据能否准确地反映真实的壁面的方法和装置，另外，提供一种在面具有拐角(角部)、边缘(缘部)的情况下，准确地计量这些拐角、边缘的坐标的方法。

解决技术问题的方法

为此，本发明的实施方式所涉及的测量方法(面测量)，包括：

求出1个壁面上的第1～第4点的坐标的第1步骤，

在所述第1步骤之后的，确定包含所述第1、第2以及第3点的第1面，包含所述第2、第3以及第4点的第2面，包含所述第3、第4以及第1点的第3面，以及包含所述第4、第1以及第2点的第4面的第2步骤，

在所述第2步骤之后的，求出所述第1面与所述第4点的第4距离δ4，所述第2面与所述第1点的第1距离δ1，所述第3面与所述第2点的第2距离δ2，以及所述第4面与所述第3点的第3距离δ3的第3步骤，

在所述第3步骤之后的，选取所述第1、第2、第3以及第4距离δ1～δ4中的最大值δmax作为评价值的第4步骤，

在所述第4步骤之后的，在所述评价值δmax小于预设的阈值δth的情况下，选取所述第1～第4面的任一者作为确定所述壁面的确定面的第5步骤。

本发明的其他方式所涉及的测量方法，具有：在所述第4步骤之后的，在所述评价值δmax大于等于预设的阈值δth的情况下返回到所述第1步骤的第6步骤。

在以上的测量方法中，优选使用免棱镜式全站仪求出所述第1～第4点的坐标。

本发明的其他的方式所涉及的测量方法，具有：