[发明专利]一种Ka频段天线相位标定试验装置

权利要求书

1.一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：包括一体化功分网络(1)、测角天线单元(2)和连接装置(3)；一体化功分网络(1)包括四个3dB功分器(101)、一个4.77dB功分器(102)、六个内置耦合器(103)、E面弯波导(104)、H面弯波导(105)、内置负载(106)、外接匹配负载(107)、第一盖板(108)和第二盖板(109)；四个3dB功分器(101)、一个4.77dB功分器(102)、六个内置耦合器(103)通过E面弯波导(104)和H面弯波导(105)一体连接形成一个七端口部件，其中一个端口为一体化功分网络(1)的输入口，其余六个端口为一体化功分网络(1)的输出口，六路输出口中的五路输出口与测角天线单元(2)连接，剩余一路输出口与外接匹配负载(107)连接，测角天线单元(2)与被测天线单元通过连接装置(3)连接，一体化功分网络(1)的每个隔离端口均设有内置负载(106)，一体化功分网络(1)通过第一盖板(108)和第二盖板(109)封闭。

2.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述一体化功分网络(1)的输入口和输出口均为BJ320波导口。

3.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述测角天线单元(2)与被测天线单元相同。

4.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述连接装置(3)为圆波导，连接装置(3)的口径与测角天线单元(2)的口径相同，连接装置(3)的长度不小于10mm。

5.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述3dB功分器(101)为波导型四分支线四端口网络，3dB功分器(101)主路和3dB功分器(101)耦合路的截面参数均设为3.556mm×7.112mm，3dB功分器(101)主路和3dB功分器(101)耦合路的中心间距设为5.556mm，3dB功分器(101)四分支线截面参数分别设为1.4mm×7.112mm、1.9mm×7.112mm、1.9mm×7.112mm、1.4mm×7.112mm，3dB功分器(101)四分支线中心间距分别设为3.9mm、4.5mm、3.9mm。

6.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述4.77dB功分器(102)为波导型四分支线四端口网络，4.77dB功分器(102)主路和4.77dB功分器(102)耦合路的截面参数均设为3.556mm×7.112mm，4.77dB功分器(102)主路和4.77dB功分器(102)耦合路的中心间距设为5.556mm，4.77dB功分器(102)四分支线截面参数分别设为1.1mm×7.112mm、1.4mm×7.112mm、1.4mm×7.112mm、1.1mm×7.112mm，4.77dB功分器(102)四分支线中心间距分别设为3.65mm、3.4mm、3.65mm。

7.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述内置耦合器(103)为波导型四分支线四端口网络，内置耦合器(103)主路和内置耦合器(103)耦合路的截面参数均设为3.556mm×7.112mm，内置耦合器(103)主路和内置耦合器(103)耦合路的中心间距设为5.556mm，内置耦合器(103)四分支线截面参数均设为2.6mm×2.6mm，内置耦合器(103)四分支线中心间距均设为4.8mm。

8.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述E面弯波导(104)切角参数设为2.8mm×2.8mm。

9.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述H面弯波导(105)切角参数设为4.6mm×4.6mm。

10.根据权利要求1所述的一种Ka频段天线相位标定试验装置，其特征在于：所述内置负载(106)采用双尖劈结构，内置负载(106)的高度设为11mm，内置负载(106)尖劈部分高度设为6mm，尖劈上、下截面参数分别设为0.5mm×0.5mm和2.6mm×2.6mm，两个尖劈中心间距设为3.556mm；内置负载(106)底座部分参数设为3.556mm×7.112mm×5mm，内置负载(106)的参数与外接匹配负载(107)的参数相同，内置负载(106)的材料采用MF-124。