[发明专利]一种基于等效时间序列采样的步长时间校正方法及装置

权利要求书

1.一种基于等效时间序列采样的步长时间校正方法，其特征在于，包括：

接收当前采样周期的驱动脉冲信号，获取用于对等效时间序列采样进行控制的数字时延芯片的总延迟时间；

统计所述数字时延芯片的总延迟时间步长数，计算所述总延迟时间与所述总延迟时间步长数的商，得到校正步进延迟时间；

按照所述校正步进延迟时间校正当前采样周期采样的各采样信号的延迟时间步长，并依据校正延迟时间步长的各采样信号进行信号重构；

所述获取用于对等效时间序列采样进行控制的数字时延芯片的总延迟时间包括：

利用时间测量芯片，分别对数字时延芯片的起始延迟时间步长和终止延迟时间步长进行测量；

计算测量得到的终止延迟时间步长与起始延迟时间步长的差，得到总延迟时间；或者，

所述获取用于对等效时间序列采样进行控制的数字时延芯片的总延迟时间包括：

解析当前采样周期的驱动脉冲信号，获取包含的延迟步数；

如果获取的延迟步数等于预先设置的最大延迟步数阈值，在所述驱动脉冲信号触发时，利用所述时间测量芯片对数字时延芯片的延迟时间步长进行测量，得到总延迟时间；或者，

所述获取用于对等效时间序列采样进行控制的数字时延芯片的总延迟时间包括：

解析驱动脉冲信号，获取包含的延迟步数；

判断获取的延迟步数是否等于预先设置的最小延迟步数阈值，如果是，在所述驱动脉冲信号触发时，利用所述时间测量芯片对数字时延芯片进行时间测量；

如果获取的延迟步数大于预先设置的最小延迟步数阈值而小于最大延迟步数阈值，在上次利用时间测量芯片测量得到的累计时间的基础上，再进行时间测量；

如果获取的延迟步数等于最大延迟步数阈值，在上次利用时间测量芯片测量得到的累计时间的基础上，再进行时间测量，得到总累计延迟时间；

计算总累计延迟时间与总累计延迟时间步长数的商，乘以总延迟时间步长数，得到总延迟时间。

2.根据权利要求1所述的基于等效时间序列采样的步长时间校正方法，其特征在于，所述方法还可以包括：

调整所述数字时延芯片的参数，使得所述数字时延芯片控制的下一采样周期的步进延迟时间为所述校正步进延迟时间。