[发明专利]用于检测电光相位调制器带宽的装置及方法有效
申请号: | 201710847602.4 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN107702888B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 李淼淼;胡红坤;郑帅峰;华勇 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01R31/00;H04B10/073 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 侯懋琪;侯春乐 |
地址: | 400060 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 电光 相位 调制器 带宽 装置 方法 | ||
1.一种用于检测电光相位调制器带宽的装置,待检测的电光相位调制器简记为器件(7),其特征在于:所述装置包括光源(1)、起偏器(2)、双折射器件(3)、检偏器(4)、光探测器(5)和矢量网络分析仪(6);所述光源(1)的输出端与器件(7)的光载波输入端光路连接,器件(7)的输出端与起偏器(2)的输入端光路连接,起偏器(2)的输出端与双折射器件(3)的输入端光路连接,双折射器件(3)的输出端与光探测器(5)的输入端光路连接,光探测器(5)的输出端与矢量网络分析仪(6)的检测信号输入端电气连接;矢量网络分析仪(6)的射频激励输出端与器件(7)的射频输入端电气连接;
所述光源(1)用于为器件(7)提供光载波;
所述双折射器件(3)采用保偏光纤环;
所述起偏器(2)的偏振轴与器件(7)的TE模或TM模的轴向对准,同时,起偏器(2)的偏振轴与双折射器件(3)的快轴成45°夹角;
所述检偏器(4)的偏振轴与双折射器件(3)的快轴成45°夹角;
所述矢量网络分析仪(6)能通过射频激励信号对器件(7)进行扫描,光探测器(5)能将采集到的光信号实时输出至矢量网络分析仪(6);矢量网络分析仪(6)扫描时的频率范围为min~1200/Δt,min为矢量网络分析仪(6)所能提供的频率下限,Δt为双折射器件(3)的快轴和慢轴的光延时。
2.一种用于检测电光相位调制器带宽的方法,所涉及的硬件包括:待检测的电光相位调制器简记为器件(7),所采用的装置包括光源(1)、起偏器(2)、双折射器件(3)、检偏器(4)、光探测器(5)和矢量网络分析仪(6);所述光源(1)的输出端与器件(7)的光载波输入端光路连接,器件(7)的输出端与起偏器(2)的输入端光路连接,起偏器(2)的输出端与双折射器件(3)的输入端光路连接,双折射器件(3)的输出端与光探测器(5)的输入端光路连接,光探测器(5)的输出端与矢量网络分析仪(6)的检测信号输入端电气连接;矢量网络分析仪(6)的射频激励输出端与器件(7)的射频输入端电气连接;
所述光源(1)用于为器件(7)提供光载波;
所述双折射器件(3)采用保偏光纤环;
所述起偏器(2)的偏振轴与器件(7)的TE模或TM模的轴向对准,同时,起偏器(2)的偏振轴与双折射器件(3)的快轴成45°夹角;
所述检偏器(4)的偏振轴与双折射器件(3)的快轴成45°夹角;
所述矢量网络分析仪(6)能通过射频激励信号对器件(7)进行扫描,光探测器(5)能将采集到的光信号实时输出至矢量网络分析仪(6);矢量网络分析仪(6)扫描时的频率范围为min~1200/Δt,min为矢量网络分析仪(6)所能提供的频率下限,Δt为双折射器件(3)的快轴和慢轴的光延时;
其特征在于:所述方法包括:
所述矢量网络分析仪(6)从光探测器(5)处接收到的信号记为总体响应度;矢量网络分析仪(6)每次输出的射频激励信号的频率记为fi,fi∈[min,1200/Δt],所述矢量网络分析仪(6)的响应度参数记为Si,Si与fi一一对应;当矢量网络分析仪(6)按所述频率范围完成了扫描操作后,按下式计算出相应的器件响应度Qi:
Qi与fi一一对应;将多个Qi绘制成曲线,所述曲线即为器件(7)的带宽曲线。
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