[发明专利]检查系统、检查装置的控制方法及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201710820519.8 申请日: 2017-09-11
公开(公告)号: CN108072399B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 绀田隆一郎 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 崔炳哲;向勇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检查 系统 装置 控制 方法 计算机 可读 存储 介质
【说明书】:

本发明公开检查系统、检查装置的控制方法及计算机可读存储介质,提供物品的检查中所使用的技术,利用该技术能够容易地确认每个部件的检查项目和/或检查标准的设定内容的历史。所述检查系统是对安装有部件的物品进行检查的检查系统,所述检查是利用检查内容数据和/或检查程序来进行的,该检查内容数据包括对每个部件编号设定的检查项目和/或检查标准,该检查程序基于所述检查内容数据来判断基板品质,该检查系统具有:存储部,其在每次修订时存储并保持所述检查内容数据的设定和/或检查程序;处理部,其从所述存储部读取任意修订的所述检查内容数据和/或所述检查程序;以及输出部,其输出所读取的所述检查内容数据和/或检查程序。

技术领域

本发明涉及安装有部件的物品的检查技术。

背景技术

作为用于检查部件在基板上的安装状态等的装置,广泛使用自动外观检查装置。在这样的装置中,利用传感器获取安装有部件的基板(包括软钎焊前的状态的基板)的外观信息,并且对每个部件测量与该部件对应的项目。然后,将得到的测量值与规定的标准值进行核对来辨别合格品和不合格品。

因此,在实施检查之前,需要对每个部件编号设定检查项目、关于该项目的标准值,并且需要将这些以检查装置可参照的状态进行登记。

此处,若设定的检查项目、标准值不合适,则发生将实际上是合格品的部件判断为不合格品的“错检”,将实际上是不合格品的部件判断为合格品的“漏检”。

“错检”导致检查效率下降,“漏检”使后续工序中的工作效率下降,两者均成为增加制造工序费用的原因,因此使“错检”和“漏检”都要最小化为好。

然而,为了减少“漏检”而将检查内容设定得严格,则“错检”增加,为了减少“错检”而将检查内容设定得不严格,则“漏检”增加,因此需要设定合适的检查项目和检查标准。

关于这样的检查标准的设定,自以前开始就公开有以减轻用户负担为目的的发明。例如,在专利文献1中公开了如下的检查标准的设定方法。即,对检查标准数据的设定对象的每个部件,预先登记外观信息与符合该外观信息的检查标准数据的多个组合模式,将处理对象的部件的合格品图像显示在画面上,并且在同一个画面上显示基于对处理对象的部件登记的外观信息设置的选择项,用户进行选择操作时,读取与所选择的项对应的检查标准数据,其中,外观信息表示该部件与基板之间的色彩的关系,或者图像中该部件附近的色彩的特征。

若如此操作,从实际的合格品模型的图像,选择与能够确认的外观对应的选择项,从而能够设定符合该外观的检查标准数据,因此对缺乏设定处理有关的知识、经验的用户而言,也能够简单地设定合适的检查标准数据。

然而,即使利用了上述方法,为得到符合合格品的外观信息且能够防止发生“错检”的合适的检查标准数据,最终也需要较长时间收集(尤其是不合格品的)数据,对实现检查标准数据的最佳化而言耗费时间。

另外,即使是相同编号的部件,随着制造批次不一样,有时全部或一部分的色调不一样,或者打出的文字的字体、字号(包括粗细)不一样。而且,虽然在实际的产品之间不存在任何差异,但有时因为光源差等检查环境的变化,所获取的检查图像与检查标准的设定当初不一样的情况。在这样的情况下,必须随时修正检查标准数据。

专利文献1:日本特开2008-32525号公报(日本特许第4788517号公报)

基于以上的原因,平时进行检查项目和检查标准数据的修正,例如由于数据发生了变更而“错检”明显增加的情况下,考虑立即将设定恢复为原状。然而现状是,即使在这样的情况下,也必须从头开始重新设定检查标准数据,而且不容易确认变更前的设定,因此存在应对“错检”需要时间的问题。

另外,有这样的需求,即追溯确认由谁、在何时、以何种观点和意图进行了成为“错检”、“漏检”的原因的检查标准数据的设定(更新),但存在现有技术无法进行这样的确认的问题。

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