[发明专利]触控检测系统及其检测方法、触控装置

说明书

本发明公开了一种触控检测系统及其检测方法、触控装置，该触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器，其中，方波发生电路可根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；频率检测模块检测第一方波信号的第一信号频率；微处理器根据第一信号频率判断待检测位置是否发生触控。本发明的技术方案可实现根据待检测位置的互电容直接检测出对应位置是否发生触控，该检测方案的检测精准度高，抗噪能力强。此外，本发明提供的触控检测系统还可实现对位于阻抗测量槽内的待检测物的阻抗的测量。

技术领域

本发明涉及触控检测领域，特别涉及一种触控检测系统及其检测方法、触控装置。

背景技术

在现有技术中，通过检测互电容的变化来判断相应位置是否存在触控。在计算电容变化时，往往将电容变化转化为电压上的差异，并将差异放大，再通过模数转换电路转化为数字信号进行处理。

然而，现有的这种互电容检测方法容易将噪声干扰同样放大，使得最终得到的数据精准不高，从而影响触控识别精准度。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种触控检测系统及其检测方法、触控装置。

为实现上述目的，本发明提供了一种触控检测系统，用于检测触控面板上的触控位置，所述触控面板包括：交叉设置的若干个触控驱动电极和触控感应电极，所述触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器；

所述方波发生电路与所述触控感应电极连接，所述方波发生电路用于在触控识别阶段时根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；

所述频率检测模块与所述方波生成模块连接，用于检测所述第一方波信号的第一信号频率；

所述微处理器与所述频率检测模块连接，用于根据所述第一信号频率判断所述待检测位置是否发生触控。

可选地，所述微处理器具体用于判断所述第一信号频率是否大于第一预设频率，若判断出所述第一信号频率大于第一预设频率值时，则判断出所述待检测位置发生触控；反之，则判断出所述待检测位置未发生触控。

可选地，所述触控面板还包括：阻抗测量槽；

所述方波发生电路与所述阻抗测量槽的第一端和第二端均连接，所述方波发生电路还用于在阻抗测量阶段时根据所述阻抗测量槽内待检测物的阻抗生成相应频率的第二方波信号；

所述频率检测模块还用于检测所述第二方波信号的第二信号频率；

所述微处理器还用于根据所述第二信号频率确定所述待检测物的阻抗。

可选地，所述微处理器具体用于从预设对应关系表中查询出所述第二信号频率对应的待检测物的阻抗，所述预设对应关系表中存储有不同第二信号频率及其对应的待检测物的阻抗。

可选地，所述方波发生电路包括：滞回比较器和阻容充放电路；

所述滞回比较器的输出端与频率检测模块连接；

所述阻容充放电路包括：第一电阻和第一电容；

所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的输出端连接，所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的反相输入端连接；

所述第一电容的第一端与所述滞回比较器的反相输入端连接，所述第二电容的第一端与第一电压输入端连接；

所述触控感应电极与所述滞回比较器的反相输入端连接。

可选地，当所述触控面板中包括阻抗测量槽时，所述阻抗测量槽的第一端与所述第一电阻的第一端连接；

所述阻抗测量槽的第二端与所述第一电阻的第二端连接。