[发明专利]一种光纤连接损耗测量装置及测量方法有效
申请号: | 201710690281.1 | 申请日: | 2017-08-14 |
公开(公告)号: | CN107328559B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 胡肖潇;雷静;姚飞;蒋灵芝 | 申请(专利权)人: | 桂林聚联科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 刘梅芳 |
地址: | 541004 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光纤 连接 损耗 测量 装置 测量方法 | ||
本发明公开了一种光纤连接损耗测量装置及测量方法,所述方法包括光纤连接损耗测量装置,具体步骤为:(1)使用光纤夹持器夹持被测光纤;(2)控制2x2光开关处于连接状态1,记录探测光信号功率P0;(3)控制2x2光开关处于连接状态1,记录探测光信号功率P2;(4)控制2x2光开关处于连接状态1,记录探测光信号功率P3;(5)控制2x2光开关处于连接状态2,记录探测光信号功率P1;(6)控制2x2光开关处于连接状态2,记录探测光信号功率P4;(7)控制单元控制2x2光开关处于连接状态2,记录探测光信号功率P5;(8)计算在1550nm窗口下,光纤连接损耗值。这种测量方法操作简单、实用性强、能节约施工成本、提高生产效率。
技术领域
本发明涉及光纤测量领域,特别是涉及光纤连接损耗测量技术,具体是一种光纤连接损耗测量装置及测量方法。
背景技术
在光缆敷设施工中,光纤熔接是必不可少的一个环节,在这个环节中,对光纤熔接点的损耗控制,直接影响到整段光纤链路的总损耗指标。目前光缆施工中,通常是先采用光纤熔接机自动熔接中对熔接损耗管理功能来控制光纤熔接点的损耗;其次是通过OTDR在远端进行测试来控制光纤熔接点的损耗;最后是在光纤链路两端通过OTDR进行双向测试来控制光纤熔接点的损耗。
以上的光缆施工测量方法存在下面一些弊端:
1.在使用光纤熔接机进行自动熔接时,目前绝大多数的光纤熔接机都具备对所进行的光纤熔接实施损耗评估的功能,但是,这种损耗评估功能一般都是通过观察纤芯对接的质量、纤芯端面的质量等因素来进行经验计算,然后得出光纤熔接点的损耗,因此,通过光纤熔接机对光纤熔接点的损耗评估,得到的光纤熔接点损耗值,只是一种估算值,而不是测量值,实际工作中,光纤熔接机对光纤熔接点损耗的评估并不够精确,在很多情况下,当光纤熔接机给出光纤熔接点损耗值为0.00dB时,实测值很有可能达到0.1dB,甚至更大,所以,通过观察纤芯对接的质量、纤芯端面的质量,由此而得出光纤熔接点的损耗值只能作为一种近似评估值,不能当作真实测量值使用;
2.在光缆施工中使用OTDR来测量光纤熔接点损耗值,目前最常用的方法有:后向单程、前向单程、前向双程三种测试方法,使用OTDR来测量光纤熔接点损耗值,好处是比较准确,特别是采用双向测试时,不仅可以测量光纤链路总损耗,还可以测试出各个光纤熔接点损耗大小以及各段光纤的损耗,不方便之处是在进行测量时,需要将OTDR仪器放置在光缆线路上的一端或两端,而不是在光纤熔接点工作现场。这意味着除了在光纤熔接点工作现场需要配置工作人员以外,还需要在光缆线路的一端或两端处配置工作人员照看和操作OTDR仪器,特别是当光缆链路为超长线路时,情况更糟,需要将线路进行分段测量,否则可能因OTDR仪器的测量动态不足而导致测量没有办法进行,另外,在使用OTDR进行光纤链路测量时,如果只进行单向测试,由于假增益现象的存在,导致测量数据不准,所以在使用OTDR进行光纤链路测量时,要求进行双向测试,以保证光纤链路损耗参数的准确性;
3.另据调查统计,在光缆工程接续中会有约20%-30%的接头损耗双向值符合要求而单向值超标的情况发生,这意味着工程人员在采用单向监测时可能会有20%-30%的情况进行错误的重复接续,当然,也可能存在另外一种情况,如果采用单向监测时,在光缆施工没有完成之前,光纤链路没有贯通,由于假增益现象的存在,导致对一些光纤熔接点损耗测试不准确,比如使用OTDR进行单向测试得到的光纤熔接点损耗小于0.05dB,但将来光缆施工完成后进行双向测试时,可能会发现该处光纤熔接点损耗大于0.2dB,一旦出现这种情况,为保证整条光纤链路的损耗指标,只好返工,将熔接点损耗超标处的光纤再断开,重新熔接。
综上所述,可以看出,目前光缆施工进行中的光纤熔接点损耗测量,在工作效率方面,不能令人感到满意。
发明内容
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