[发明专利]一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法在审

专利信息
申请号: 201710686914.1 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN107450857A 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 李玲侠 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 济南诚智商标专利事务所有限公司37105 代理人: 王汝银
地址: 450018 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 验证 存储 设备 历史 性能 数据 正确 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及数据正确性验证技术领域,具体地说是一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法。

背景技术

存储设备的历史性能数据主要包括存储设备、卷、Mdisk的IOPS、带宽、时延、读操作数、写操作数等,历史数据有助于了解存储的历史性能,但手动验证验证数据的正确性耗费很多时间和精力,不利于测试的快速进行,给目前的测试带来极大的困扰。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法,用于解决对存储设备历史性数据正确性验证时耗时多、效率低的问题。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法,具体包括以下步骤:

通过ls指令获取需要计算的历史性能数据;

对采集到的历史性能数据进行计算;

根据计算结果与历史性能数据进行对比,判断历史性能数据是否正确。

进一步地,需要计算的历史性能数据包括MDisk数据,VDisk数据,存储设备数据。

进一步地,对采集到的历史数据进行计算具体包括对MDisk数据进行计算、对VDisk数据进行计算、对存储设备数据进行计算。

进一步地,对MDisk数据进行计算包括对MDisk的IOPS进行计算、对MDisk的总吞吐量进行计算、对MDisk的平均响应时延进行计算、对MDisk的总的读操作数进行计算、对MDisk的总的写操作数进行计算;

对MDisk的IOPS进行计算具体包括以下方式:

(ro1+wo1+ro2+wo2)/60;式中,ro1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的读IO数,ro2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读IO数,wo1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的写IO数,wo2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写IO数;

对MDisk的总吞吐量进行计算具体包括以下方式:

(rb1+wb1+rb2+wb2)/(60*1024*1024);式中,rb1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的读数据量,rb2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读IO数,wb1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的写数据量,wb2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写IO数;

对MDisk的平均响应时延进行计算具体包括以下方式:

(re1+we1+re2+we2)/(ro1+wo1+ro2+wo2);式中,re1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的读时延,re2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读时延,we1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的写时延,we2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写时延;

对MDisk的总的读操作数进行计算具体包括以下方式:

(ro1+ro2)/60;

对MDisk的总的写操作数进行计算具体包括以下方式:

(wo1+wo2)/60。

进一步地,对VDisk数据进行计算具体包括对VDisk的IOPS进行计算、对VDisk的总吞吐量进行计算、对VDisk的平均响应时延进行计算、对VDisk的总的读操作数进行计算、对VDisk的总的写操作数进行计算;

对VDisk的IOPS进行计算具体包括以下方式:

(ro1+wo1+ro2+wo2)/60,式中,ro1表示Nv_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的读IO数,ro2表示Nv_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读IO数,wo1表示Nv_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的写IO数,wo2表示Nv_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写IO数;

对VDisk的总吞吐量进行计算具体包括以下方式:

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