[发明专利]一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法

权利要求书

1.一种自动验证存储设备历史性能数据正确的方法，其特征是，具体包括以下步骤：

通过ls指令获取需要计算的历史性能数据；

对采集到的历史性能数据进行计算；

根据计算结果与历史性能数据进行对比，判断历史性能数据是否正确。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征是，需要计算的历史性能数据包括MDisk数据，VDisk数据，存储设备数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征是，对采集到的历史数据进行计算具体包括对MDisk数据进行计算、对VDisk数据进行计算、对存储设备数据进行计算。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征是，对MDisk数据进行计算包括对MDisk的IOPS进行计算、对MDisk的总吞吐量进行计算、对MDisk的平均响应时延进行计算、对MDisk的总的读操作数进行计算、对MDisk的总的写操作数进行计算；

对MDisk的IOPS进行计算具体包括以下方式：

(ro1+wo1+ro2+wo2)/60；式中，ro1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的读IO数，ro2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读IO数，wo1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的写IO数，wo2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写IO数；

对MDisk的总吞吐量进行计算具体包括以下方式：

(rb1+wb1+rb2+wb2)/(60*1024*1024)；式中，rb1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的读数据量，rb2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读IO数，wb1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的写数据量，wb2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写IO数；

对MDisk的平均响应时延进行计算具体包括以下方式：

(re1+we1+re2+we2)/(ro1+wo1+ro2+wo2)；式中，re1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的读时延，re2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的读时延，we1表示Nm_stats_*文件中配置节点上当前采样周期内的总的写时延，we2表示Nm_stats_*文件中非配置节点上当前采样周期内的总的写时延；

对MDisk的总的读操作数进行计算具体包括以下方式：

(ro1+ro2)/60；

对MDisk的总的写操作数进行计算具体包括以下方式：

(wo1+wo2)/60。